[发明专利]可靠地预测孔隙渗透性趋势的数字岩石分析系统及方法有效
申请号: | 201380051153.2 | 申请日: | 2013-08-23 |
公开(公告)号: | CN104685382B | 公开(公告)日: | 2019-06-04 |
发明(设计)人: | 朱塞佩·德普里斯科;乔纳斯·托克 | 申请(专利权)人: | 英格染股份有限公司 |
主分类号: | G01V3/18 | 分类号: | G01V3/18 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 丁晓峰 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 可靠 预测 孔隙 渗透性 趋势 数字 岩石 分析 系统 方法 | ||
1.一种渗透性决定方法,包括:
取得样品的三维孔隙/基质模型;
测量以子体积尺寸为函数的孔隙度相关参数变化的分布;及
测量以子体积尺寸为函数的孔隙连接性相关参数,其中所述孔隙连接性相关参数是子体积的不连接孔隙度;
至少部分基于所述孔隙度相关参数变化的分布与所述孔隙连接性相关参数,导出低于所述变化临界值与所述连接性临界值两者的子体积所具有的孔隙度范围,所述孔隙度范围为子体积尺寸的函数;
选择提供最大可达孔隙度范围的子体积尺寸;
找出与孔隙度数值相关联的渗透性数值,所述孔隙度数值是由低于所述变化临界值与所述连接性临界值两者的所选择的子体积所具有的;及
显示以孔隙度为函数的所述渗透性数值;
其中所述导出可达孔隙度范围包括:
筛选出具有高于已知变化临界值的孔隙度相关参数变化的子体积;
筛选出具有高于已知连接性临界值的连接性相关参数数值的子体积;及
决定与任何剩余子体积相关联的孔隙度范围;
其中所述变化临界值筛选出具有在所述分布的上部3/5中变化的子体积;
其中所述连接性临界值筛选出具有大于10%的不连接孔隙度的子体积。
2.根据权利要求1所述的方法,还包括:至少部分基于以子体积尺寸为函数的所述孔隙度相关参数变化的分布决定积分尺度。
3.根据权利要求2所述的方法,还包括:至少部分基于以子体积尺寸为函数的所述连接性相关参数决定渗滤尺度。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述导出与选择是以决定积分尺度与渗滤尺度中至少其中一个与所述孔隙/基质模型的维度是可比较的为条件。
5.根据权利要求1所述的方法,其中所述取得包括:
扫描实体岩石样品,以取得三维数字影像;及
从所述三维影像导出所述孔隙/基质模型。
6.根据权利要求1所述的方法,其中所述孔隙度相关参数变化的分布是孔隙度标准偏差分布。
7.根据权利要求6所述的方法,还包括:测量孔隙表面对体积比的标准偏差分布。
8.一种渗透性决定系统,包括:
具有软件的内存;及
一个或多个处理器,所述一个或多个处理器耦接至所述内存以执行所述软件,所述软件可使所述一个或多个处理器进行:
取得样品的三维孔隙/基质模型;
测量以子体积尺寸为函数的孔隙度相关参数变化的分布;及
测量以子体积尺寸为函数的孔隙连接性相关参数,其中所述孔隙连接性相关参数是子体积的不连接孔隙度;
至少部分基于所述孔隙度相关参数变化的分布与所述孔隙连接性相关参数,导出低于所述变化临界值与所述连接性临界值两者的子体积所具有的孔隙度范围,所述孔隙度范围为子体积尺寸的函数;
选择提供最大可达孔隙度范围的子体积尺寸;
找出与孔隙度数值相关联的渗透性数值,所述孔隙度数值是由低于所述变化临界值与所述连接性临界值两者的所选择的子体积所具有的;及
显示以孔隙度为函数的所述渗透性数值;
其中作为所述导出可达孔隙度范围的一部分,所述软件使所述一个或多个处理器进行:
筛选出具有高于已知变化临界值的孔隙度相关参数变化的子体积;
筛选出具有高于已知连接性临界值的连接性相关参数数值的子体积;及
决定与任何剩余子体积相关联的孔隙度范围;
其中所述变化临界值筛选出具有在所述分布的上部3/5中变化的子体积;
其中所述连接性临界值筛选出具有大于10%的不连接孔隙度的子体积。
9.根据权利要求8所述的系统,其中所述软件还使所述一个或多个处理器进行:至少部分基于以子体积尺寸为函数的所述孔隙度相关参数变化的分布决定积分尺度。
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