[发明专利]物体检测装置有效

专利信息
申请号: 201380051913.X 申请日: 2013-09-26
公开(公告)号: CN104704321B 公开(公告)日: 2017-08-08
发明(设计)人: 秋山启子;大塚秀树 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20;B60R21/00;G01B17/06;G01B21/00;G01C3/06;G01S13/93;G01S15/93;G01S17/08;G01S17/93;G08G1/16
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 舒艳君,李洋
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 物体 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种物体检测装置,其特征在于,具备:

距离检测部,向在车辆移动时存在于所述车辆的侧方的物体逐次发送探测波,接收所述探测波碰到所述物体而反射的反射波,基于接收到的反射波来逐次检测到所述物体的距离;

位置计算部,计算进行所述物体的距离检测时的所述距离检测部的位置亦即传感器位置;

反射点推断部,使用所述距离检测部检测出的距离亦即检测距离的历史和所述传感器位置的历史,来推断所述反射波的到来方向,并推断作为从所述传感器位置沿所述到来方向离开了所述检测距离的量的点的反射点;

形状判定部,判定所述物体的角附近的所述反射点的历史形状;以及

反射点校正部,在所述历史形状中包含所述物体的面角度较急时产生的较急历史形状时,将属于所述较急历史形状的所述反射点亦即精度低反射点校正为所述角附近的不属于所述较急历史形状的所述反射点亦即正常反射点或者与该正常反射点处的所述到来方向对应的位置。

2.根据权利要求1所述的物体检测装置,其特征在于,

所述形状判定部是根据所述反射点的历史,将被推断为所述反射点的检测精度低的精度低范围作为所述较急历史形状而提取的范围提取部。

3.根据权利要求2所述的物体检测装置,其特征在于,

所述范围提取部具备第1提取部,所述第1提取部将所述反射点的历史方向与所述距离检测部的移动方向成为相反朝向的范围作为所述精度低范围而提取。

4.根据权利要求2所述的物体检测装置,其特征在于,

所述范围提取部具备:

角度计算部,根据所述反射点的历史计算所述物体的面角度;和

第2提取部,将构成规定值以上的所述面角度的所述反射点的范围作为所述精度低范围而提取。

5.根据权利要求2至4中任意一项所述的物体检测装置,其特征在于,

所述反射点校正部具备第1校正部,该第1校正部以所述精度低范围中的所述到来方向作为与所述精度低范围的端相邻的所述正常反射点亦即端点处的端点到来方向,将所述精度低反射点校正为从所述精度低反射点中的所述传感器位置沿所述端点到来方向离开了所述检测距离的量的点。

6.根据权利要求2至4中任意一项所述的物体检测装置,其特征在于,

将成为校正对象的所述精度低反射点作为校正对象反射点,将该校正对象反射点处的所述传感器位置作为对象传感器位置,将与该对象传感器位置相邻的所述传感器位置作为相邻传感器位置,将该相邻传感器位置处的所述正常反射点作为相邻反射点,

所述反射点校正部具备:

反射面计算部,将使由所述相邻反射点以及与其相邻的所述正常反射点构成的反射面亦即相邻反射面的法线关于连结所述相邻反射点与所述相邻传感器位置的直线对称移动而得到的线作为法线,并且计算与所述相邻反射点连接的反射面;和

第2校正部,将所述校正对象反射点校正为所述反射面计算部计算出的反射面与以所述对象传感器位置处的所述检测距离为半径的圆弧的交点。

7.根据权利要求2至4中任意一项所述的物体检测装置,其特征在于,

所述反射点校正部具备第3校正部,该第3校正部将精度低反射点校正为该精度低反射点相对与所述精度低范围的端相邻的所述正常反射点亦即端点成为点对称的点。

8.根据权利要求2至4中任意一项所述的物体检测装置,其特征在于,

所述反射点校正部具备第4校正部,该第4校正部将所述精度低反射点校正为从与所述精度低范围的端相邻的所述正常反射点亦即端点沿所述车辆的移动方向或者其相反方向偏移了规定值的量的点。

9.根据权利要求1至4中任意一项所述的物体检测装置,其特征在于,

具备反射点无效部,所述反射点无效部以所述车辆的侧方的方向作为所述物体的纵深方向,使所述反射点校正部校正后的校正反射点中从所述纵深方向上的位置最小的反射点沿所述纵深方向离开了第1阈值以上的校正反射点无效。

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