[发明专利]光传感器有效
| 申请号： | 201380052233.X | 申请日： | 2013-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN104737305B | 公开（公告）日： | 2018-12-25 |
| 发明（设计）人： | 花田要;知久真一郎;山崎力;园田富哉 | 申请（专利权）人： | 株式会社村田制作所 |
| 主分类号： | H01L31/16 | 分类号： | H01L31/16;G01V8/12 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 张鑫 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 传感器 | ||
1.一种光传感器，包括：
基板；
安装于该基板的表面的发光元件；
设置于该发光元件的上部的折射率介质；以及
安装于所述基板的表面的受光元件，
从所述发光元件出射的光经过被检测物体反射后得到的光被所述受光元件接收，从而检测出该被检测物体的存在，所述光传感器的特征在于，
所述光传感器中没有设置遮光部件，
经由所述折射率介质而出射的光的光轴在所述受光元件的相反侧的方向上的仰角设定在47°～89°的范围内，并且经由所述折射率介质而出射的光的光束发散角设定在1.8°～42°的范围内。
2.如权利要求1所述的光传感器，其特征在于，
所述折射率介质是透镜，
经由该透镜而出射的光的光轴在所述受光元件的相反侧的方向上的仰角设定在50°～89°的范围内，并且经由该透镜而出射的光的光束发散角设定在1.8°～20.3°的范围内。
3.如权利要求2所述的光传感器，其特征在于，
所述发光元件的安装位置相对于所述透镜的中心在接近所述受光元件的方向上发生位置偏移，且偏移的范围在所述透镜半径的2％～62％的范围内。
4.如权利要求1所述的光传感器，其特征在于，
所述折射率介质是具有倾斜面的坡体，
经由该坡体而出射的光的光轴在所述受光元件的相反侧的方向上的仰角设定在47°～57°的范围内，并且经由该坡体而出射的光的光束发散角设定在29°～42°的范围内。
5.一种光传感器，包括：
基板；
安装于该基板的表面的发光元件；
设置于该发光元件的上部的折射率介质；以及
安装于所述基板的表面的多个受光元件，
所述多个受光元件配置于不会夹着所述发光元件的位置，
从所述发光元件出射的光经过被检测物体反射后得到的光被所述受光元件接收，从而检测出该被检测物体的存在，所述光传感器的特征在于，
所述光传感器中没有设置遮光部件，
经由所述折射率介质而出射的光的光轴在所述受光元件的相反侧的方向上的仰角设定在47°～89°的范围内，并且经由所述折射率介质而出射的光的光束发散角设定在1.8°～42°的范围内。
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H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
