[发明专利]光学频域反射计(OFDR)系统有效
申请号: | 201380053894.4 | 申请日: | 2013-09-16 |
公开(公告)号: | CN104782063A | 公开(公告)日: | 2015-07-15 |
发明(设计)人: | J·J·L·霍里克斯;G·W·T·霍夫特;M·J·H·马雷尔 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | H04B10/071 | 分类号: | H04B10/071;G01M11/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘瑜;王英 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 反射 ofdr 系统 | ||
1.一种光学频域反射计(OFDR)系统(100),所述系统包括:
-光学辐射源(5),其能够发射在特定波长带内的光学辐射,所述辐射源光学连接到第一耦合点(15),所述第一耦合点被布置为将所述辐射分裂为两部分,
-参考路径(16),所述参考路径光学连接到所述第一耦合点,
-测量路径(17),所述测量路径光学连接到所述第一耦合点,所述测量路径还包括光学环行器(18),所述环行器光学连接到测量分支(20),所述测量分支被布置为基于反射的辐射进行测量,
-其中,所述参考路径与所述测量路径光学耦合在第二耦合点(25)中,
-光学探测单元(30),其能够经由所述第二耦合点获得来自从所述参考路径和所述测量路径组合的光学辐射的信号,
-其中,所述测量路径(17)包括依赖偏振的光学路径长度移位器(PDOPS、PDFS、10),所述移位器具有引起或创建针对在所述测量路径中的所述辐射的第一偏振(P1)和第二偏振(P2)的功能,所述第一偏振(P1)不同于所述第二偏振(P2),并且
其特征在于,
-所述移位器还具有使得针对在所述测量路径中的所述第一偏振(P1)的所述光学路径长度相对于针对在所述测量路径中的所述第二偏振(P2)的所述光学路径长度不同的功能,所述测量分支(20)包括光纤,所述光纤被布置为提供沿所述光纤的感测长度(ls)的针对OFDR的反射,并且其中,所述依赖偏振的光学路径长度移位器(PDOPS)还被布置使得在反射谱中的所述第一偏振(P1)与所述第二偏振(P2)之间的光学路径长度差(ΔPDOS)被选择为避免在所述反射谱中的所述第一偏振(P1)与所述第二偏振(P2)之间的交叠。
2.根据权利要求1所述的光学频域反射计(OFDR)系统,其中,所述光学探测单元(30)能够在频域中执行OFDR并且提供反射谱,所述依赖偏振的光学路径长度移位器(PDOPS)被布置使得在所述反射谱中的所述第一偏振(P1)与所述第二偏振(P2)之间的所述光学路径长度差(ΔPDOS)大于纤维的所述感测长度(ls)。
3.根据权利要求1所述的光学频域反射计(OFDR)系统,其中,当通过内积评估时,所述第一偏振(P1)与所述第二偏振(P2)基本上正交。
4.根据权利要求1所述的光学频域反射计(OFDR)系统,其中,在所述波长带内的所述扫描被执行使得在所述波长带的一个单个扫描期间所述第一偏振(P1)和所述第二偏振(P2)被创建或引起,并且在所述光学探测单元(30)中被测量。
5.根据权利要求1所述的光学频域反射计(OFDR)系统,其中,所述依赖偏振的光学路径长度移位器(PDOPS)被定位为使得所述参考路径中的偏振不受干扰。
6.根据权利要求1所述的光学频域反射计(OFDR)系统,其中,所述依赖偏振的光学路径长度移位器(PDOPS)定义第一光学子路径和第二光学子路径,通过射束分裂器以及射束组合器定义所述第一光学子路径和所述第二光学子路径,所述射束分裂器当所述辐射进入所述移位器时将所述辐射分开到所述第一光学子路径和所述第二光学子路径中,所述射束组合器被布置为组合来自所述第一光学子路径和所述第二光学子路径的辐射。
7.根据权利要求6所述的光学频域反射计(OFDR)系统,其中,所述移位器包括在所述第一光学子路径和/或所述第二光学子路径中的一个或多个偏振控制器(PC)。
8.根据权利要求6或7所述的光学频域反射计(OFDR)系统,其中,所述移位器包括光学连接到法拉第镜的环行器,以创建或引起不同于所述第二偏振(P2)的第一偏振(P1)。
9.根据权利要求6、7或8所述的光学频域反射计(OFDR)系统,其中,所述移位器包括在所述射束分裂器中和/或在所述射束组合器中的偏振射束分裂器(PBS)。
10.根据权利要求6、7、8或9所述的光学频域反射计(OFDR)系统,其中,所述移位器包括在所述第一光学子路径中和/或在所述第二光学子路径中的偏振保持(PM)纤维。
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