[发明专利]超导线圈的失超检测装置有效

专利信息
申请号: 201380054248.X 申请日: 2013-08-20
公开(公告)号: CN104756205B 公开(公告)日: 2017-08-22
发明(设计)人: 三上行雄 申请(专利权)人: 住友重机械工业株式会社
主分类号: H01F6/02 分类号: H01F6/02;H01F6/00;H01F6/06
代理公司: 永新专利商标代理有限公司72002 代理人: 徐殿军
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 超导 线圈 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种超导线圈的失超检测装置,其中,

该装置具备串联连接的第1超导线圈和第2超导线圈,

所述第1超导线圈和所述第2超导线圈呈相同的形状,

所述第1超导线圈的第1轴线和所述第2超导线圈的第2轴线配置于相同的位置及相同的方向,并且在所述方向上的所述第1超导线圈的位置和所述第2超导线圈的位置相同,

所述第1超导线圈的绕组的长度和所述第2超导线圈的绕组的长度相同,

在所述第1超导线圈与所述第2超导线圈之间设有中间抽头,

并且,具有检测器,测量第1超导线圈的第1电压和第2超导线圈的第2电压,并基于第1电压和第2电压的偏差和存储的阈值来判断失超是否发生。

2.根据权利要求1所述的超导线圈的失超检测装置,其中,

所述第1超导线圈的绕组和所述第2超导线圈的绕组相邻。

3.根据权利要求2所述的超导线圈的失超检测装置,其中,

所述第1超导线圈的绕组和所述第2超导线圈的绕组被共同卷绕。

4.根据权利要求3所述的超导线圈的失超检测装置,其中,

所述第1超导线圈的绕组和所述第2超导线圈的绕组呈扁平状,且相互重合。

5.根据权利要求4所述的超导线圈的失超检测装置,其中,

所述第1超导线圈的绕组和所述第2超导线圈的绕组在径向上的位置在中途被调换。

6.根据权利要求3所述的超导线圈的失超检测装置,其中,

所述第1超导线圈的绕组和所述第2超导线圈的绕组的截面呈圆形状,且相互绞合。

7.根据权利要求2所述的超导线圈的失超检测装置,其中,

所述第1超导线圈的绕组和所述第2超导线圈的绕组通过多个扁平线圈在所述方向上交替层叠而成。

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