[发明专利]使用PUF用于检验认证、尤其是用于防止对IC或控制设备的功能的未获得授权的访问

权利要求书

1.用于检验借助于认证器（3）对认证对象（2）的认证的方法，所述认证器包括下面也称为PUF（6）的物理不可克隆函数（6）和认证检验功能（5），所述方法包括方法步骤：

为认证器（3）提供挑战响应对（4A）,其中挑战响应对（4A）包括下面也称为挑战（C）的挑战信息（C）和下面也称为响应（R）的响应信息（R），并且其中响应（R）通过认证对象（2）提供给认证器（3）；

使用挑战信息（C）作为用于PUF（6）的输入，所述PUF对挑战信息（C）的输入产生PUF响应（PR）；

使用PUF响应（PR）和响应（R）用于比较，其中根据比较的结果提供释放信号（A）。

2.根据权利要求1所述的方法，其中在比较的范围中，确定一致性尺度，将所述一致性尺度与阈值相比较，并且其中优选地如果所确定的一致性尺度达到或超过阈值，则提供释放信号（A）。

3.根据前述权利要求之一所述的方法，其中在比较的范围中检验：

a)响应（R）是否与PUF响应（PR）充分一致；或者

b）为了多次将挑战信息（C、C2、C3）输入到PUF（6）中，由此通过PUF（6）产生的PUF响应（PR_i）是否与响应（R）充分一致；或者

c）为了将不同的挑战信息（C、C2、C3）输入到PUF（6）中由此通过PUF（6）产生的PUF响应（ PR、PR2、PR3）是否与属于相应的挑战（C、C2、C3）的响应（R、R2、R3）充分一致。

4.根据前述权利要求之一所述的方法，其中认证对象（2）除了响应（R）之外也将挑战（C）提供给认证器（3）。

5.根据前述权利要求之一所述的方法，其中认证对象（2）包括具有存储区域（7）的芯片，在所述存储区域中存储一个挑战响应对（4A）和/或存储多个挑战响应对（4A、4B、4C）。

6.根据前述权利要求之一所述的方法，其中认证对象（2）提供多个挑战响应对（4A、4B、4C）和/或将所述多个挑战响应对存储在存储区域（7）中。

7.根据前述权利要求之一所述的方法，其中认证器（3）由电子部件（9）、诸如集成电路或控制设备包括，其中电子部件（9）被构成和/或适配用于处于开放状态或处于受限制状态，并且其中在受限制状态下不能使用或仅能受限制地使用电子部件的功能。

8.根据前述权利要求之一所述的方法，其中认证对象（2）提供PUF校正数据，其中认证器（3）使用所述PUF校正数据用于验证所提供的响应（R）和借助于PUF（6）产生的PUF响应（PR）。

9.根据前述权利要求之一所述的方法，其中认证对象（2）存储所述一个挑战响应对（4A）或者所述多个挑战响应对（4A、4B、4C），从数据库询问或者借助于PUF（6）的计算模型计算。

10.根据前述权利要求之一所述的方法，其中在提供所述一个挑战响应对（4A）或所述多个挑战响应对（4A、4B、4C）时，认证器（3）确定认证对象（2）的标识信息并且优选地与此有关地确定密码密钥用于在认证器（3）和认证对象（2）之间或在可释放的功能和认证对象（2）之间加密地传输挑战响应对（4A、4B、4C）或者用于加密地传输响应（R、R2、R3）。

11.根据前述权利要求之一所述的方法，其中根据提供给认证器的所述一个挑战响应对（4A）或者根据提供给认证器的所述多个挑战响应对（4A、4B、4C）通过认证器（3）确定密码密钥用于在认证器（3）和认证对象（2）之间或在可释放的功能和认证对象（2）之间加密地传输挑战响应对（4A、4B、4C）或者用于加密地传输响应（R、R2、R3）。

12.根据前述权利要求之一所述的方法，其中认证器（3）在接受认证对象（2）之后提供其他挑战响应对用于将来的认证。