[发明专利]用于行锤击监视的装置，存储器和方法

说明书

存储器子系统的检测逻辑获取针对存储器设备的阈值，该阈值指示时间窗内导致物理上相邻的行上的数据损坏风险的访问的数量。检测逻辑从存储针对存储器设备的配置信息并且可以是该存储器设备本身上的寄存器和/或可以是该存储器设备所属的存储器模块的配置存储设备中的项的寄存器获取阈值。检测逻辑确定对存储器设备的行的访问的数量是否超过阈值。响应于检测到访问的数量超过阈值，检测逻辑可以生成触发以使得存储器设备执行目标为物理上相邻的受害者行的刷新。

技术领域

本发明的实施例总地涉及存储器管理，并且更具体地涉及基于所存储的经编程的值来监视行锤击事件。

版权声明/许可

本专利文档的公开内容的部分可能包含受版权保护的材料。版权拥有者不反对任何人对本专利文档或本专利的公开内容的复制，因为其出现在专利商标局的专利文件或记录中，但在其它方面保留所有任何版权权利。本版权声明适用于下文描述和在此的附图中的所有数据，以及下文中描述的任何软件：版权所有2012年，英特尔公司，保留所有权利。

背景技术

随着计算技术的发展，计算设备更小并且具有更多的处理能力。另外，它们包括越来越多的存储设备和存储器以便满足在设备上执行的编程和计算的需求。通过提供具有更高密度的设备来实现设备的不断缩小的大小连同增加的存储容量，其中，在存储器设备中存在越来越多的原子存储单元，但每个原子存储单元具有越来越小的几何形状。

在最新一代的增加的密度的设备中，间歇性故障已经出现在某些设备中。例如，一些基于现有的DDR3(双倍数据速率，版本3)的系统在重工作负载的状况下经历间歇性故障。研究人员已经将这些故障追溯到在存储器单元的刷新窗内对存储器的单个行的重复访问。例如，对于32nm的工艺来说，如果在64ms的刷新窗内访问了一行550K次或更多次，那么去往被访问行的在物理上相邻的字线具有经历数据损坏的高可能性。这种状况在DRAM(动态随机存取存储器)工业中被称为“行锤击”(row hammer)或“单行干扰”，该状况在DRAM工业中最频繁地被观察到并将被用于总地描述本文中的状况。行锤击可能导致跨选通门(passgate)的迁移。由对一个行的重复访问导致的泄漏和寄生电流导致非访问的物理上相邻行中的数据损坏。

然而，本领域的技术人员也理解的是：存储器设备在不同代设备当中、不同制造商的可比较设备当中、以及甚至相同制造商的不同批次当中有所不同。因此，虽然已经观察到重工作负载导致间歇性故障，但没有适用于所有设备的对于“重工作负载”的清楚的定义。因此，没有将行锤击状况清楚地定义为适用于所有设备的一般性参数。

附图说明

下面的描述包括对具有对本发明的实施例实现作为举例而给出的图示的图的讨论。应该作为举例而不是作为限制来理解这些图。如本文中所使用的，对一个或多个“实施例”的提及应该被理解为描述包括在本发明的至少一个实现中的特定的特征、结构或特性。因此，本文中出现的诸如“在一个实施例中”或者“在替代实施例中”的短语描述本发明的各个实施例和实现，并且并不一定都指的是相同的实施例。然而，它们也不一定是互斥的。

图1A是使用可编程行锤击阈值来监视行锤击状况的系统的实施例的框图。

图1B是在存储器设备处包括用于根据可编程行锤击阈值来指示检测到的行锤击事件的列/地址信息逻辑和分布式检测逻辑的系统的实施例的框图。

图2是在存储器设备处包括行锤击检测逻辑和受害者逻辑的系统的实施例的框图。

图3A是根据来自存储器设备的配置存储设备的阈值来监视行锤击状况的系统的实施例的框图。

图3B是根据来自存储器模块的配置存储设备的阈值来监视行锤击状况的系统的实施例的框图。

图4是用于根据可编程行锤击阈值来检测行锤击状况的过程的实施例的流程图。

图5是用于监视存储器设备的行锤击状况的过程的实施例的流程图。