[发明专利]用于操作电气设备的方法和电气设备

权利要求书

1.一种用于操作流体绝缘电气设备(1)的方法，其中所述电气设备(1)的至少一个间隔(11)中的绝缘流体(10)包括至少第一流体成分(A)和至少第二流体成分(B)，所述方法包括执行下列方法要素：

- 对所述绝缘流体(10)执行至少一个光学测量，并且使用所述光学测量来得出所述第一流体成分(A)的第一浓度(c_A)，和/或

- 执行至少一个气体色谱测量，并且使用所述气体色谱测量来得出所述第一流体成分(A)的第一浓度(c_A)，

- 得出所述第二流体成分(B)的第二浓度(c_B)，

- 其中所述第一流体成分(A)和所述第二流体成分(B)不是污染物，以及

- 执行所述光学测量和/或所述气体色谱测量、得出所述第一浓度(c_A)以及得出所述第二浓度(c_B)的所述方法要素对所述电气设备(1)的多个间隔(11)来执行，并且其中所述第一浓度(c_A)和所述第二浓度(c_B)对所述间隔(11)的每个来得出，

- 执行所述光学测量的所述方法要素由至少一个光学传感器(20)来执行，和/或执行所述气体色谱测量的所述方法要素由至少一个气体色谱仪(30)来执行，以及光学传感器(20)和气体色谱仪(30)的总数小于或等于所述间隔(11)的总数，

- 所述方法还包括由控制单元(40)使用各间隔(11)中的所述第一流体成分(A)所述第一浓度(c_A)和所述第二流体成分(B)的所述第二浓度(c_B)来得出所述电气设备(1)的操作状态(O)的方法要素，

所述方法还包括执行下列方法要素

- 按照下式、使用所述第一浓度(c_A)并且使用所述第二浓度(c_B)来得出所述绝缘流体(10)的介电击穿强度E_bd

其中E_crit,A和E_crit,B是所述第一流体成分(A)和所述第二流体成分(B)的临界场强度；c_A是所述第一流体成分(A)的所述第一浓度，c_B是所述第二流体成分(B)的所述第二浓度；S(c_A, c_B)是协同参数；以及i是所述第一流体成分(A)和所述第二流体成分(B)的索引，并且其中所述操作状态(O)使用所述绝缘流体(10)的所述介电击穿强度E_bd来得出。

2.如权利要求1所述的方法，其中，所述流体绝缘电气设备(1)是气体绝缘中压或高压开关设备(1)。

3.如权利要求1所述的方法，还包括执行下列方法要素

- 将所述绝缘流体(10)的量填充到所述电气设备(1)的所述间隔(11)中，

其中执行所述光学测量和/或所述气体色谱测量的所述方法要素在采用所述绝缘流体(10)填充所述间隔(11)的所述方法要素期间和/或之后执行。

4.如权利要求1至3中的任一项所述的方法，其中，执行所述光学测量和/或所述气体色谱测量、得出所述第一浓度(c_A)、得出所述第二浓度(c_B)以及得出所述操作状态(O)的所述方法要素由所述电气设备(1)来执行。

5.如权利要求1至3中的任一项所述的方法，其中，所述第二浓度(c_B)使用所述光学测量和/或使用所述气体色谱测量来得出。

6.如权利要求1至3中的任一项所述的方法，其中，所述第二浓度(c_B)使用密度测量和/或使用所述绝缘流体(10)的压力和温度测量来得出。