[发明专利]X射线测量辅助工具有效
申请号: | 201380058330.X | 申请日: | 2013-10-22 |
公开(公告)号: | CN104768469A | 公开(公告)日: | 2015-07-08 |
发明(设计)人: | 宫本高敬 | 申请(专利权)人: | 日立阿洛卡医疗株式会社 |
主分类号: | A61B6/04 | 分类号: | A61B6/04 |
代理公司: | 北京金信知识产权代理有限公司 11225 | 代理人: | 黄威;孙丽梅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 测量 辅助工具 | ||
1.一种X射线测量辅助工具,包括:
外部结构,当要测量受检者的第一骨部位时,所述外部结构将所述受检者的第一肢体维持在第一姿势;以及
内部构造,当要测量所述受检者的第二骨部位时,所述内部构造将所述受检者的第二肢体维持在第二姿势。
2.根据权利要求1所述的X射线测量辅助工具,其中,所述第一肢体为下肢,并且所述第二肢体为上肢。
3.根据权利要求2所述的X射线测量辅助工具,其中,
所述第二骨部位是桡骨,
所述内部构造具有让充当所述上肢的前臂插入其中的测量室,并且
在所述测量室的周围的至少一部分上配置有散射X射线屏蔽构件,所述散射X射线屏蔽构件阻挡在所述测量室中产生的散射的X射线。
4.根据权利要求2所述的X射线测量辅助工具,其中,
所述内部构造具有基座,所述基座配置有由所述受检者抓握的把手,并且,
用于防止过多的射线暴露的测量用X射线屏蔽构件配置在所述基座中的测量区域的外侧。
5.根据权利要求4所述的X射线测量辅助工具,其中,
所述内部构造具有允许所述基座的安装高度改变的高度改变结构。
6.根据权利要求3所述的X射线测量辅助工具,其中,
透明顶板配置在所述测量室的上方。
7.根据权利要求1所述的X射线测量辅助工具,其中,
所述第一骨部位是腰椎,
所述第一姿势为充当所述第一肢体的下肢的膝盖弯曲姿势,并且
所述外部结构具有配置在所述下肢的下方并且辅助所述下肢的所述膝盖弯曲姿势的结构。
8.根据权利要求7所述的X射线测量辅助工具,进一步包括:
第一倾斜表面,在辅助所述下肢的所述膝盖弯曲姿势的状态下接触所述受检者的大腿的背侧;以及
第二倾斜表面,在辅助所述下肢的所述膝盖弯曲姿势的状态下接触所述受检者的小腿肚。
9.根据权利要求8所述的X射线测量辅助工具,其中,
所述X射线测量辅助工具具有梯形的垂直横截面。
10.根据权利要求1所述的X射线测量辅助工具,其中,
所述第一骨部位是股骨,
所述第一肢体是下肢,并且
所述外部结构包括:
凹陷,其容纳所述下肢的脚跟;
倾斜表面,其接触所述下肢的从脚踝附近区域至拇指关节的内侧表面并且将所述下肢设定成扭转姿势;以及
固定构件,其相对于所述脚跟更靠脚尖侧固定处于所述扭转姿势的所述下肢。
11.根据权利要求1所述的X射线测量辅助工具,其中,
所述第一骨部位是左股骨和右股骨,
所述第一肢体是左下肢和右下肢,并且
所述外部结构包括:
第一凹陷和第二凹陷,分别容纳所述左下肢的左脚跟和所述右下肢的右脚跟;
第一倾斜表面和第二倾斜表面,分别接触所述左下肢的从左脚踝附近区域至左拇指关节的左内侧表面和所述右下肢的从右脚踝附近区域至右拇指关节的右内侧表面,并且分别将所述左下肢和所述右下肢设定成扭转姿势;以及
第一固定构件和第二固定构件,分别相对于所述左脚跟更靠左脚尖侧固定处于所述扭转姿势的所述左下肢和相对于所述右脚跟更靠右脚尖侧固定处于所述扭转姿势的所述右下肢。
12.一种X射线测量辅助工具,包括:
第一外部结构,当要测量受检者的腰椎时,所述第一外部结构将所述受检者的下肢维持在膝盖弯曲姿势;
第二外部结构,当要测量所述受检者的股骨时,所述第二外部结构将所述受检者的所述下肢维持在扭转姿势;以及
内部构造,当要测量所述受检者的前臂骨时,所述内部构造将所述受检者的前臂维持在水平姿势。
13.根据权利要求12所述的X射线测量辅助工具,其中,所述X射线测量辅助工具在使用期间放置在成像台上,并且在未使用期间放置在地面上以形成踏台。
14.根据权利要求12所述的X射线测量辅助工具,其中,
所述第一外部结构具有前后布置的第一倾斜表面和第二倾斜表面,
所述第二外部结构在所述X射线测量辅助工具的右侧端和左侧端的其中之一上形成,并且
所述内部构造具有在所述X射线测量辅助工具的所述右侧端和所述左侧端的另一个上形成的开口,以及与所述开口连通并配置在所述第一倾斜表面和所述第二倾斜表面之间的测量室。
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