[发明专利]电压测量有效
申请号: | 201380058364.9 | 申请日: | 2013-11-08 |
公开(公告)号: | CN104871012B | 公开(公告)日: | 2018-11-20 |
发明(设计)人: | J·E·D·赫维茨;S·A·A·达内斯 | 申请(专利权)人: | 亚德诺半导体集团 |
主分类号: | G01R15/04 | 分类号: | G01R15/04;G01R19/02;G01R21/133 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 刘倜 |
地址: | 百慕大群岛(*** | 国省代码: | 百慕大群岛;BM |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电压 测量 | ||
1.一种电压测量装置,包括:
第一电位衰减器,被配置为电连接在第一导体和第二导体之间,所述第一导体和所述第二导体被电耦合到电源,所述第一电位衰减器包括彼此串联的第一阻抗和第一基准阻抗装置,所述第一基准阻抗装置具有以已知方式变化的电特性;和
处理装置,被配置为:从所述第一基准阻抗装置获取至少一个信号,所述至少一个信号反映电特性以所述已知方式的变化;并依赖于已知的所述电特性变化的方式和所述至少一个信号而确定第一导体和第二导体之间的电压,
其中所述第一基准阻抗装置包括与所述第一阻抗连接的第二阻抗以及与所述第一导体和所述第二导体之一连接并连接到所述第二阻抗的电路,并且其中所述电路被配置使得调制的偏移电压被提供到所述第二阻抗。
2.根据权利要求1所述的电压测量装置,其中,所述处理装置被进一步配置为:依赖于所述电特性的变化确定衰减因子,并通过向由所述处理装置获取的信号施加所述衰减因子来确定第一导体和第二导体之间的电压。
3.根据权利要求1所述的电压测量装置,其中,所述处理装置被配置为:依赖于已知的所述电特性变化的方式和所述至少一个信号,确定所述第一阻抗的阻抗。
4.根据权利要求2所述的电压测量装置,其中,所述处理装置被配置为:依赖于已知的所述电特性变化的方式和所述至少一个信号,确定所述第一阻抗的阻抗。
5.根据权利要求2-4中任一项所述的电压测量装置,其中,所述处理装置被配置为:将第一阻抗的阻抗和衰减因子中的至少一个的从一次确定到另一次确定的变化与阈值进行比较。
6.根据权利要求1-4中的任一项所述的电压测量装置,其中,所述偏移电压是下列中的一种:基本恒定的、间歇性的和变化的。
7.根据权利要求1-4中的任一项所述的电压测量装置,其中,所述处理装置进一步包括偏移电压补偿电路,其操作以在获取之前取消施加的偏移电压的效果。
8.根据权利要求1-4中的任一项所述的电压测量装置,其中,所述第一基准阻抗装置能够在具有已知电特性的第一配置和具有已知电特性的第二配置之间变化,以及
所述处理装置被配置为:当处于所述第一配置时,从所述第一基准阻抗装置获取至少一个第一信号;当处于所述第二配置时,从所述第一基准阻抗装置获取至少一个第二信号;依赖于所述第一基准阻抗装置在处于第一配置和第二配置中时的已知的电特性、所述至少一个第一信号和所述至少一个第二信号,确定第一导体和第二导体之间的电压。
9.根据权利要求8所述的电压测量装置,其中,所述第一基准阻抗装置能够操作来:在第一配置和第二配置之间定期地切换,和
所述处理装置能够操作来:当处于每个配置时确定衰减因子;以及当所述第一基准阻抗装置处于第一配置和第二配置中的一个时,确定所述第一导体和所述第二导体之间的电压,所述电压的确定依赖于至少一个先前确定的衰减因子间歇地进行。
10.根据权利要求9所述的电压测量装置,其中,所述第一配置和第二配置之间的周期性切换以比第一导体和第二导体之间的电压的基准频率高的频率和比其低的频率中的一者的频率进行。
11.根据权利要求8所述的电压测量装置,其中,所述电压测量装置被配置以在第一配置和第二配置之间改变第一电位衰减器中的电流。
12.根据前述权利要求1-4中的任一项所述的电压测量装置,其中,所述第一电位衰减器被配置为使得所述第一基准阻抗装置能够操作来间歇性提供向所述第一基准阻抗装置的至少一个偏移电压的施加从而在第一基准阻抗装置的第一配置和第二配置之间改变,以及
所述处理装置能够操作来确定如下的至少一个:所述第一导体和所述第二导体之间的电压;所述第一阻抗的值;以及在第一配置和第二配置中的至少一个中通过基准阻抗和所述第一阻抗形成的衰减因子。
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