[发明专利]具有规则孔的表面多孔杂化整料、其制备方法及其使用方法有效
申请号: | 201380060663.6 | 申请日: | 2013-09-27 |
公开(公告)号: | CN104797528B | 公开(公告)日: | 2017-12-22 |
发明(设计)人: | 魏大程;蒋坤强;威廉·E·贝尔波 | 申请(专利权)人: | 安捷伦科技有限公司 |
主分类号: | C01B33/113 | 分类号: | C01B33/113;C04B38/00;C04B38/06;B01J20/28;B01J20/10 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司11258 | 代理人: | 李晓冬 |
地址: | 美国科*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 规则 表面 多孔 整料 制备 方法 及其 使用方法 | ||
1.一种多孔整料,其包含:
(1)含有连续大孔的有机改性的非多孔骨架;和
(2)基本上多孔的外壳,其包含基本有序的中孔,
其中所述骨架和所述外壳均独立地为金属氧化物或杂化金属氧化物;并且所述金属氧化物选自二氧化硅、氧化铝、二氧化钛和氧化锆。
2.如权利要求1所述的多孔整料,其中,所述金属氧化物为二氧化硅。
3.如权利要求2所述的多孔整料,其中,所述连续大孔的中值孔径范围为0.2μm至10μm。
4.如权利要求2所述的多孔整料,其中,所述基本有序的中孔的中值孔径范围为1nm至100nm,孔径分布,一个标准偏差,为不超过50%的中值孔径。
5.如权利要求4所述的多孔整料,其中,所述基本有序的中孔的中值孔径范围为2nm至50nm,孔径分布,一个标准偏差,为不超过50%的中值孔径。
6.如权利要求2所述的多孔整料,其中,杂化二氧化硅骨架被倍半硅氧烷改性。
7.如权利要求6所述的多孔整料,其中,所述倍半硅氧烷包括桥连的聚倍半硅氧烷。
8.如权利要求2所述的多孔整料,其中,所述二氧化硅整料的中值表面积在5m2/g到1000m2/g的范围内。
9.如权利要求8所述的多孔整料,其中,所述二氧化硅整料的中值表面积在100m2/g到500m2/g的范围内。
10.如权利要求7所述的多孔整料,其中,所述中孔是基本上有序形成的中值长度范围为0.01μm到5μm、长度分布,一个标准偏差,为不超过30%的中值通道长度的对准通道。
11.如权利要求1所述的多孔整料,其中,所述外壳的厚度为所述骨架的骨架直径的l%到99%。
12.如权利要求7所述的多孔整料,其中,所述杂化二氧化硅骨架包含1%w/w到100%w/w的桥连的聚倍半硅氧烷。
13.一种用于制备基本上金属氧化物或杂化金属氧化物整料的方法,包括:
经由高温烧结提供具有非多孔骨架的大孔整料;并且
在碱性含水环境中、在一种或混合的表面活性剂存在下、在10到13.5的pH下加热所述大孔整料足够长的时间,以在其上产生具有基本有序的中孔的多孔外壳,其中所述表面活性剂选自十六烷基三甲基溴化铵(C16TAB)和十八烷基三甲基溴化铵(C18TAB)。
14.如权利要求13所述的方法,其中,加热所述大孔整料是在含水环境中、在十六烷基三甲基溴化铵的存在下、在70℃到160℃的温度下、在10到13的pH下进行1到10天的时间。
15.如权利要求13所述的方法,其中,所述基本有序的中孔的中值孔径范围为1nm至100nm,孔径分布,一个标准偏差,为不超过50%的中值孔径。
16.如权利要求13所述的方法,其进一步包括用式为Za(R')bSi-R的表面改性剂改性所述整料的表面,
其中,
Z=Cl、Br、I、C1-C5烷氧基、二烷基氨基、三氟乙酰氧基或三氟甲烷磺酸酯;
a和b均为0到3的整数,前提是a+b=3;
R'为C1-C6的直链、环状或支化的烷基;并且
R选自烷基、烯基、炔基、芳基、氨基、酰胺、氰基、醚、硝基、羰基、环氧、磺酰基、氨基甲酸酯和脲基基团。
17.如权利要求16所述的方法,其中,所述表面改性剂选自辛基三氯硅烷、十八烷基三氯硅烷、辛基二甲基氯硅烷和十八烷基二甲基氯硅烷。
18.如权利要求16所述的方法,其中,R选自烷基、烯基、炔基、芳基、氨基、酰胺、氰基、醚、硝基、羰基、环氧、磺酰基、氨基甲酸酯和脲基基团。
19.如权利要求16所述的方法,其中,R为C1-C30烷基基团。
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