[发明专利]摄像装置及曝光确定方法有效

专利信息
申请号: 201380060687.1 申请日: 2013-08-30
公开(公告)号: CN104813212B 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: 井上和纪;岩崎洋一;青木贵嗣 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: G02B7/28 分类号: G02B7/28;G02B7/34;G03B13/36;H04N5/232;H04N5/238
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 代理人: 熊传芳,苏卉
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 摄像 装置 曝光 确定 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及摄像装置及曝光确定方法。

背景技术

近年来,随着CCD(Charge Coupled Device:电荷耦合元件)图像传感器、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor:互补金属氧化物半导体)图像传感器等固体摄像元件的高分辨率化,数码静物相机、数字摄像机、智能手机等移动电话、PDA(Personal Digital Assistant:个人数字助理)等具有摄影功能的信息设备的需求急增。另外,将具有以上那样的摄像功能的信息设备称为摄像装置。

在这些摄像装置中,作为检测到主要的被摄体的距离而使焦点对合于该被摄体的对焦控制方法,采用对比度AF(Auto Focus:自动对焦)方式、相位差AF方式。由于相位差AF方式与对比度AF方式相比能够较高速地进行对焦位置的检测,因此在各种各样的摄像装置中采用较多。

例如,在专利文献1中公开了将摄像元件的像素的一部分作为相位差检测用的像素并使用从相位差检测用的像素读出的信号来进行相位差AF的摄像装置。

另外,在专利文献2中记载了利用相位差AF传感器的输出信号来确定曝光的摄像装置。

专利文献1:日本特开2010-286826号公报

专利文献2:日本特开2004-264451号公报

发明内容

发明所要解决的课题

如专利文献1那样,在使用从相位差检测用的像素读出的信号而进行相位差AF的摄像装置中,相位差检测用的像素的灵敏度与通常的像素的灵敏度相比大幅降低。因此,为了高精度地进行相位差AF,需要以并非通常的像素而是相位差检测用的像素成为适当曝光的方式确定曝光条件。

相位差检测用的像素使用检测通过了摄影光学系统的光瞳区域的例如右一半的光的右像素和检测通过了摄影光学系统的光瞳区域的例如左一半的光的左像素这至少两种。右像素和左像素中,由于入射角灵敏度特性的差异,即使摄像元件的像高(距配置像素的区域的与摄影光学系统的光轴相交的点的距离)相同,也根据配置这些的位置而使灵敏度产生差异。

因此,为了以相位差检测用的像素成为适当曝光的方式确定曝光条件,需要考虑由摄像元件的像高引起的灵敏度的差异。

本发明鉴于上述情况而作出,其目的在于提供能够对相位差检测用的像素适当地进行曝光而高精度地进行相位差AF的摄像装置及曝光确定方法。

用于解决课题的手段

本发明的摄像装置具有摄像元件,上述摄像元件包括配置有多个摄像用像素和多个相位差检测用像素的受光面,上述多个摄像用像素是对由通过了摄像光学系统的光瞳区域的光束形成的像进行摄像的像素,上述多个相位差检测用像素包括:多个第一相位差检测用像素,对由通过了上述摄像光学系统的光瞳区域的不同部分的一对光束形成的一对像的一方进行摄像;及多个第二相位差检测用像素,对上述一对像的另一方进行摄像,多个相位差检测区域沿上述一对像偏离的方向并列地设于上述摄像元件的受光面,上述第一相位差检测用像素和上述第二相位差检测用像素的对在所述相位差检测区域配置有多个,上述摄像装置具备:曝光确定部,基于位于所选择的上述相位差检测区域的上述相位差检测用像素的输出信号来确定曝光条件;及散焦量运算部,利用在由上述曝光确定部确定的曝光条件下由上述摄像元件进行摄像所得的摄像图像信号中的、位于所选择的上述相位差检测区域的上述第一相位差检测用像素和上述第二相位差检测用像素的输出信号,来运算散焦量,上述曝光确定部从所选择的相位差检测区域中选择如下的相位差检测用像素,该相位差检测用像素与在所选择的该相位差检测区域中灵敏度最大的上述相位差检测用像素和灵敏度最小的上述相位差检测用像素的灵敏度差对应或与所选择的该相位差检测区域的上述受光面中的上述偏离的方向上的位置对应,上述曝光确定部基于所选择的相位差检测用像素的输出信号来确定曝光条件。

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