[发明专利]用于校正尾端效应的装置、方法及系统

权利要求书

1.一种用于校正尾端效应的装置，包括：

传感器阵列，所述传感器阵列包括多个接收RX电极和多个发送TX电极，其中，所述多个RX电极和所述多个TX电极在所述传感器阵列的基板上的单层中的触摸感应区域中彼此交错而没有交叉；

传感器，所述传感器经配置测量来自所述传感器阵列的多个测量结果，其中，所述多个测量结果代表导电体与所述传感器阵列接触或接近所述传感器阵列；以及

与所述传感器耦合的处理逻辑，其中，所述处理逻辑经配置至少执行以下操作：

确定对应于与由所述多个测量结果代表的所述导电体相关联的尾端效应的调整值的集合，其中，用于特定TX电极的调整值是基于沿所述特定TX电极的RX电极的索引的总和来计算的；以及

基于所述调整值的集合生成对应于由所述多个测量结果代表的所述导电体的调整后的测量结果，其中，所述调整后的测量结果校正所述尾端效应。

2.如权利要求1所述的装置，其中，所述尾端效应包括由受所述导电体影响的RX电极的主迹线和TX电极之间的寄生耦合引起的寄生信号增加或寄生信号减少，其中，所述RX电极的所述主迹线邻近所述TX电极布线。

3.如权利要求2所述的装置，其中，所述RX电极的所述主迹线和所述RX电极的成形部被布置在所述传感器阵列的所述触摸感应区域中，但是，所述RX电极的所述成形部不受所述导电体影响。

4.如权利要求1所述的装置，其中，所述传感器阵列包括在所述传感器阵列的相对侧上的第一非感应区域和第二非感应区域，其中，所述多个RX电极的第一子集和所述多个TX电极的第一子集从所述第一非感应区域布线，并且所述多个RX电极的第二子集和所述多个TX电极的第二子集从所述第二非感应区域布线。

5.如权利要求1所述的装置，其中，所述处理逻辑还经配置基于所述调整后的测量结果确定所述导电体在所述传感器阵列上的位置坐标。

6.如权利要求1所述的装置，其中，所述多个测量结果包括通过所述传感器阵列的所述特定TX电极形成的传感器元件的信号值，并且其中，所述调整后的测量结果包括对应于所述信号值的调整值。

7.如权利要求6所述的装置，其中，为了确定关于所述特定TX电极的所述调整值，所述处理逻辑经配置执行以下操作：

计算沿所述特定TX电极形成所述传感器元件的RX电极的所述索引的总和；

计算沿所述特定TX电极的所述传感器元件的所述信号值的总和；

基于所述索引的总和和所述信号值的总和计算参数值；以及

至少基于：所述信号值中的每个信号值、所述参数值、以及对应RX电极的索引调整所述每个信号值，以获得对应的调整值。

8.如权利要求6所述的装置，其中，通过所述特定TX电极形成的所述传感器元件的所述信号值小于尾端效应阈值值。

9.如权利要求6所述的装置，其中，沿所述特定TX电极形成所述传感器元件的所述RX电极具有大于形成具有峰值信号值的传感器元件的RX电极的索引的索引。

10.一种用于校正尾端效应的方法，包括：

接收从传感器阵列测量的多个测量结果，其中，所述多个测量结果代表导电体与所述传感器阵列接触或接近所述传感器阵列，其中，所述传感器阵列包括多个接收RX电极和多个发送TX电极，其中，所述多个RX电极和所述多个TX电极在所述传感器阵列的基板上的单层中的触摸感应区域中彼此交错而没有交叉；

处理装置确定对应于与由所述多个测量结果代表的所述导电体相关联的尾端效应的调整值的集合，其中，用于特定TX电极的调整值是基于沿所述特定TX电极的RX电极的索引的总和来计算的；以及

基于所述调整值的集合生成对应于由所述多个测量结果代表的所述导电体的调整后的测量结果，其中，所述调整后的测量结果校正所述尾端效应。

11.如权利要求10所述的方法，其中，所述尾端效应包括由受所述导电体影响的RX电极的主迹线和TX电极之间的寄生耦合引起的寄生信号增加或寄生信号减少，并且其中，所述RX电极的所述主迹线邻近所述TX电极布线。

12.如权利要求11所述的方法，其中，所述RX电极的所述主迹线和所述RX电极的成形部被布置在所述传感器阵列的所述触摸感应区域中，但是，所述RX电极的所述成形部不受所述导电体影响。