[发明专利]用于映射期间的电极接触的实时反馈

权利要求书

1.一种导管系统，包括：

映射导管，其包括多个映射电极，其中，每个映射电极构造为感测与解剖结构相关联的信号；以及

处理器，其可操作地耦接至所述多个映射电极并且构造为接收由所述多个映射电极感测到的信号，其中，所述处理器还被构造为基于感测到的信号的幅度来表征由所述多个映射电极感测到的信号并基于信号的表征来产生所述多个映射电极与所述解剖结构的接触的质量的输出。

2.根据权利要求1所述的导管系统，还包括：

显示装置，其构造为提供表示所述多个映射电极的接触的质量的图形化显示。

3.根据权利要求1和2中任一项所述的导管系统，其中，所述显示装置构造为以表示不同的接触的质量的多个颜色来表示所述多个映射电极的接触的质量。

4.根据权利要求1-3任一项所述的导管系统，其中，所述处理器构造为实时更新所述多个映射电极的接触的质量的输出。

5.根据权利要求1-4任一项所述的导管系统，其中，所述处理器还构造为基于具有其幅度大于阈值幅度的感测到的信号的电极来产生所述解剖结构的图像。

6.根据权利要求1-5任一项所述的导管系统，其中，所述处理器构造为感测以及表征双极信号。

7.根据权利要求1-6任一项所述的导管系统，其中，所述处理器构造为感测以及表征单极信号。

8.根据权利要求1-7任一项所述的导管系统，其中，所述处理器还构造为基于所述多个映射电极的接触的质量来识别所述解剖结构的轮廓。

9.根据权利要求1-8任一项所述的导管系统，其中，所述处理器还构造为基于所述多个映射电极的接触的质量来确定所述多个映射电极的取向。

10.一种映射解剖结构的方法，所述方法包括：

利用多个映射电极来感测与解剖结构相关联的信号；

基于所述多个映射电极的幅度来表征由所述多个映射电极感测到的信号；

基于信号的表征来确定所述多个映射电极与所述解剖结构的接触的质量；并且

显示表示所述多个电极的接触的质量的图形化显示。

11.根据权利要求10所述的方法，其中，所述确定步骤包括：

实时更新所述多个映射电极的接触的质量。

12.根据权利要求10和11中的任一项所述的方法，还包括：

仅基于具有其幅度大于阈值幅度的感测到的信号的电极来产生所述解剖结构的图像。

13.根据权利要求10-12任一项所述的方法，其中所述显示步骤包括：

使用表示不同的接触的质量的多个颜色来显示所述多个映射电极的接触的质量。

14.根据权利要求10-13任一项所述的方法，还包括

基于所述多个映射电极的接触的质量来识别所述解剖结构的轮廓。

15.根据权利要求10-14任一项所述的方法，还包括

基于所述多个映射电极的接触的质量来确定所述多个映射电极的取向。

16.一种映射解剖结构的方法，所述方法包括：

靠近解剖结构定位多个映射电极；

利用所述多个映射电极来感测信号；

基于所述多个映射电极的幅度来表征由所述多个映射电极感测到的信号；

基于信号的表征来确定所述多个映射电极与所述解剖结构的接触的质量；

显示表示所述多个映射电极的接触的质量的图形化显示；

相对于所述解剖结构来重新定位所述多个映射电极；并且

当所述多个映射电极被重新定位时，随着所述多个电极的接触的质量变化，实时更新所述图形化显示。

17.根据权利要求16所述的方法，其中，所述感测步骤包括：

利用所述多个映射电极对来感测双极信号。

18.根据权利要求16和17中的任一项所述的方法，其中，所述感测步骤包括：

利用所述多个映射电极中的每个映射电极来感测单极信号。

19.根据权利要求16至18任一项所述的方法，还包括：

仅基于具有其幅度大于阈值幅度的感测到的信号的电极来产生所述解剖结构的图像。

20.根据权利要求16至19任一项所述的方法，其中，所述显示步骤包括：

使用表示不同的接触的质量的多个颜色来显示所述多个映射电极的接触的质量。