[发明专利]使用流探针的菌斑检测

权利要求书

1.一种用于检测在表面(31，33)上物质(116)的存在的装置(100，100')，所述装置(100，100')包括：

被配置成被浸入第一流体(11)中的远端探针部(110)，所述远端探针部(110)限定具有开放端口(136，2604)的远端尖端(112，112')，以使第二流体(30)能够穿过其通过，

所述装置(100，100’)被配置成使得，穿过所述远端尖端(112，112')的所述第二流体(30)的通过，使基于与至少部分阻碍穿过所述远端尖端(112，112')的所述开放端口(136，2604)的所述流体(30)的通过的物质(116)相关的信号测量，能够检测可能存在于所述表面(31，33)上的所述物质(116)，其中所述远端探针部(110)包括多个组件。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其中所述多个组件沿着所述远端探针部(110)的轴向方向被设置。

3.根据权利要求1所述的检测装置，其中所述多个组件中的相邻组件之间存在间隔距离。

4.根据权利要求1所述的检测装置，其中所述多个组件沿着所述远端探针部(110)的径向方向具有不同的材料。

5.根据权利要求1所述的检测装置，其中所述多个组件相对于彼此是同轴和非同轴中的一者。

6.根据权利要求1所述的检测装置，其中所述多个组件中在所述远端探针部(110)的所述远端尖端(112，112')处的组件与所述多个组件中在距所述远端尖端(112，112')一定距离处的组件具有不同的特性。

7.根据权利要求6所述的检测装置，其中所述特性选自由磨损、硬度、垂直刚度、弯曲刚度和直径所组成的组。

8.根据权利要求1所述的检测装置，其中所述多个组件的各自长度是不同的。

9.根据权利要求1所述的检测装置，其中所述多个组件中的相邻组件的外径和内径调整。

10.一种用于检测在表面(31，33)上物质(116)的存在的方法，所述方法包括：

将远端探针部(110)浸入第一流体(11)中，所述远端探针部(110)限定具有开放端口(136，2604)的远端尖端(112，112')，以使第二流体(30)能够穿过其通过，并且

由于穿过所述远端尖端(112，112')的所述第二流体(30)的通过，基于与至少部分阻碍穿过所述远端尖端(112，112')的所述开放端口(136，2604)的所述流体(30)的通过的物质相关的信号的测量，检测可能存在于所述表面(31，33)上的所述物质(116)，其中所述远端探针部(110)包括多个组件。

11.根据权利要求10所述的方法，其中所述多个组件被沿着所述远端探针部(110)的轴向方向设置。

12.根据权利要求10所述的方法，其中所述多个组件中的相邻组件之间存在间隔距离。

13.根据权利要求10所述的方法，其中所述多个组件沿着所述远端探针部(110)的径向方向具有不同的材料。

14.根据权利要求10所述的方法，其中所述多个组件相对于彼此是同轴和非同轴中的一者。

15.根据权利要求10所述的方法，其中所述多个组件中在所述远端探针部(110)的所述远端尖端(112，112')处的组件与所述多个组件中在距所述远端尖端(112，112')一定距离处的组件具有不同的特性。

16.根据权利要求15所述的方法，其中所述特性选自由硬度、垂直刚度、弯曲刚度和直径所组成的组。

17.根据权利要求10所述的方法，其中所述多个组件的各自长度是不同的。

18.根据权利要求10所述的方法，其中所述多个组件中的相邻组件的外径和内径调整。