[发明专利]用于获得3D图像的方法和装置有效
申请号: | 201380067450.6 | 申请日: | 2013-08-13 |
公开(公告)号: | CN104885451B | 公开(公告)日: | 2017-07-28 |
发明(设计)人: | 曹雅煐;梁先镐;申允燮;金成珉;权宁满;郑用宇;安成根;李昌焕 | 申请(专利权)人: | LG电子株式会社 |
主分类号: | H04N13/02 | 分类号: | H04N13/02 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 | 代理人: | 夏凯,谢丽娜 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 获得 图像 方法 装置 | ||
1.一种用于获得3D图像的装置,所述装置包括:
光发送单元,所述光发送单元配置为用于向识别的目标发射红外线(IR)结构光;
光接收单元,所述光接收单元包括用于接收从所述识别的目标反射的红外线和可见光的RGB-IR传感器;
处理器,所述处理器配置为用于通过使用由所述光接收单元接收的红外线和可见光中的每一个来获得3D图像信息,所述3D图像信息包括所述识别的目标的深度信息和可见光图像;以及
光照单元,所述光照单元配置为用于控制所述红外线(IR)结构光的光照周期,
其中,所述光照单元被配置为:
控制所述红外线(IR)结构光的光照周期,以通过将可见光测量时间段T1与红外测量时间段T2彼此分开来去除所述可见光测量时间段T1与所述红外测量时间段T2之间的干扰,
当环境光的亮度超过预定常规参考值Th2时,通过考虑所述环境光的亮度来以相同的时段重复所述可见光测量时间段T1与所述红外测量时间段T2,
控制所述红外线(IR)结构光的光照周期,如果环境光的亮度小于预定常规参考值Th2,则允许所述可见光测量时间段T1比所述红外测量时间段T2更长,
控制所述红外线(IR)结构光的光照周期,如果环境光的亮度小于预定最小参考值Th1,则仅允许所述红外测量时间段T2而没有所述可见光测量时间段T1,以及
使所述红外光维持比常规情况低的功率。
2.根据权利要求1所述的装置,其中,所述处理器进一步被配置为通过使用获得的红外差分图像来测量所述识别的目标的深度。
3.根据权利要求1所述的装置,其中,包括所述光接收单元的所述RGB-IR传感器确定R、G、B和IR像素的排列,使得所述IR像素不以等间距排列。
4.根据权利要求1所述的装置,进一步包括图像恢复单元和显示单元,所述图像恢复单元通过使用由所述处理器获得的所述3D图像信息来恢复所述识别的目标的3D图像,所述显示单元用于在可视屏幕上提供恢复的3D图像。
5.一种用于获得3D图像的方法,所述方法包括下述步骤:
向识别的目标发射红外线(IR)结构光,并且接收从所述识别的目标反射的红外线和可见光;以及
通过使用接收的红外线和可见光中的每一个来获得3D图像信息,所述3D图像信息包括所述识别的目标的深度信息和可见光图像,
其中,所述红外线(IR)结构光的光照周期被控制为,在所述红外线(IR)结构光被发射到所述识别的目标时,通过将可见光测量时间段T1与红外测量时间段T2彼此分开来去除所述可见光测量时间段T1与所述红外测量时间段T2之间的干扰,
其中,所述红外线(IR)结构光的光照周期被控制为,如果环境光的亮度在最小参考值Th1与常规参考值Th2之间,则允许所述可见光测量时间段T1比所述红外测量时间段T2更长,
其中,所述红外线(IR)结构光的光照周期被控制为,如果环境光的亮度小于预定最小参考值Th1,则仅允许所述红外测量时间段T2而没有所述可见光测量时间段T1,以及
其中,所述红外光被控制为维持比常规情况低的功率。
6.根据权利要求5所述的方法,其中,所述红外线(IR)结构光的光照周期被控制为,如果环境光的亮度超过常规参考值Th2,则以相同的时段重复所述可见光测量时间段T1与所述红外测量时间段T2。
7.根据权利要求5所述的方法,其中,通过使用获得的红外差分图像来测量所述识别的目标的深度。
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