[发明专利]分光测定装置、分光测定方法及试样容器

说明书

技术领域

本发明涉及分光测定装置、分光测定方法、及试样容器。

背景技术

一直以来，已知有对作为测定对象的试样照射激发光而检测被测定光的分光测定装置。作为该种技术，例如专利文献1中记载有量子效率测定装置。该专利文献1所记载的量子效率测定装置中，由积分球对单一波长的放射的荧光体中的反射成分及被激发的荧光发光的全放射成分进行积分，测定其分光能量分布，并且由积分球对单一波长的放射的分光反射率标准中的全反射成分进行积分，测定其分光分布。然后，基于该测定值，计算荧光体所吸收的光量子量及荧光发光的光量子量，根据其比可以谋求计算出荧光体的量子产率。

另外，例如专利文献2中，记载有在求取量子产率时，在积分球内未直接击中激发光的位置固定试样，根据将激发光间接地入射至试样所得到的强度、与将激发光直接入射至试样所得到的强度，求得试样的吸收率的绝对荧光量子效率测定装置。另外，非专利文献1～3中，记载有以将激发光入射于试样的一部分作为前提来计算量子产率。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2003-215041号公报

专利文献2：日本特开2011-196735号公报

非专利文献

非专利文献1：“Measurement of absolutephotoluminescence quantum efficiencies in conjugated polymers Chemical PhysicsLetters Volume 241”、Issues 1-2、14 July 1995、Pages 89-96、N.C.Greenham、I.D.W.Samuel、G.R.Hayes、R.T.Phillips、Y.A.R.R.Kessener、S.C.Moratti,A.B.Holmes,R.H.Friend

非专利文献2：“An improved experimental determination of external photoluminescence quantum efficiency Advanced Materials”、Vol.9、Issue 3、March 1997、Pages 230-232、John C.de Mello、H.Felix Wittmann、Richard H.Friend

非专利文献3：“使用积分球的绝对荧光量子效率测定法的理论研究”、第71次应用物理学会学术演讲会(2010年9月12日)、14p-NK-6、市野善朗(2010.9.12)14p-NK-6

发明内容

发明所要解决的问题

然而，一般而言，若试样被激发，则在全方位放射被测定光(荧光)。另外，对多数试样而言，被测定光也作为吸收波长区域，因而会引起由自身吸收自身所发出的被测定光的自吸收。关于该点，量子产率以试样所吸收的激发光的光子数相对于被测定光的光子数的比表示，因而若由自吸收而吸收被测定光，则有估计所计算出的量子产率相对于真值小的担忧。

因此，本发明的一个侧面的课题在于提供可高精度地求得量子产率的分光测定装置、分光测定方法及试样容器。

解决问题的技术手段

为了解决上述课题，本发明的一个侧面所涉及的分光测定装置，其特征在于，其是对作为测定对象的试样照射激发光而检测被测定光的分光测定装置，包含：光源，其产生激发光；积分器，其具有入射激发光的入射开口部、及射出被测定光的射出开口部；收纳部，其配置于积分器内，且收纳试样；入射光学系统，其使激发光入射至试样；光检测器，其检测自射出开口部射出的被测定光；及解析单元，其基于由光检测器检测出的检测值而计算试样的量子产率；激发光以包含(内包)试样的方式被照射于该试样。

本发明的一个侧面所涉及的分光测定装置中，可减少自吸收量，且可高精度地求得量子产率。这是由于下述理由。即，在激发光被照射至试样的一部分的情况下，试样中被照射区域与未被照射的区域的边界面积大的部分，自吸收量多，相对于此，本发明的一个侧面所涉及的分光测定装置中，由于激发光以包含(内包)试样的方式被照射，因而试样中被照射区域与未被照射的区域的边界面积变窄，自吸收量变小。

另外，作为适宜地实现上述作用效果的构成，具体而言，可以列举入射光学系统以激发光包含(内包)试样的方式调整激发光的构成。另外，可以列举收纳部以激发光包含(内包)试样的方式收纳试样的构成。