[发明专利]气体分析仪有效
申请号: | 201380074284.2 | 申请日: | 2013-04-03 |
公开(公告)号: | CN105026915B | 公开(公告)日: | 2018-01-02 |
发明(设计)人: | 东亮一;赤尾幸造;谷口裕;小泉和裕;平山纪友 | 申请(专利权)人: | 富士电机株式会社 |
主分类号: | G01N21/61 | 分类号: | G01N21/61;G01N21/31 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 气体 分析 | ||
1.一种气体分析仪,其特征在于,具备:
气体调整部,其在氧化输出状态与通常输出状态之间进行切换,在该氧化输出状态下,使试样气体与臭氧气体混合在进行氧化反应之后并进行加热后作为第一测量对象气体而输出,在该通常输出状态下,将上述试样气体以无反应的状态作为第二测量对象气体而输出;
NO2气体吸光用发光部,其照射二氧化氮气体即NO2气体会吸收的320nm~600nm的波长的NO2气体吸光用照射光;
气体流通室,其具有流通上述第一测量对象气体和上述第二测量对象气体的检测空间以及用于使上述NO2气体吸光用照射光入射到检测空间的光透过窗;
透过光接收部,其接收透过上述光透过窗并在气体流通室内传播后的上述NO2气体吸光用照射光;
驱动控制部,其对上述气体调整部和上述NO2气体吸光用发光部进行控制,使得在分别使上述第一测量对象气体和上述第二测量对象气体在上述气体流通室中流通的状态下照射上述NO2气体吸光用照射光;以及
信号处理部,其基于根据上述透过光接收部的受光量而得到的计算值,基于根据向上述第一测量对象气体照射上述NO2气体吸光用照射光时的受光量而得到的计算值来计算上述试样气体所包含的二氧化氮气体即NO2气体的气体浓度,使用表示受光量之差的计算值来计算上述试样气体所包含的一氧化氮气体即NO气体的气体浓度,其中,该受光量之差是从根据向上述第一测量对象气体照射上述NO2气体吸光用照射光时的受光量所得到的计算值减去根据向上述第二测量对象气体照射上述NO2气体吸光用照射光时的受光量所得到的计算值而得到的。
2.根据权利要求1所述的气体分析仪,其特征在于,
上述气体调整部包括:
臭氧产生部,其在不存在来自上述驱动控制部的指令时输出原料气体,在存在上述指令时由上述原料气体生成臭氧气体并输出包含臭氧气体的原料气体;
气体混合部,其将上述试样气体与上述原料气体混合后输出;以及
气体加热部,其将来自上述气体混合部的混合气体进行加热后作为上述第一测量对象气体和上述第二测量对象气体而输出。
3.根据权利要求1所述的气体分析仪,其特征在于,还设置有:
基准光接收部,其接收上述NO2气体吸光用照射光作为基准光;以及
光路决定部,其使上述NO2气体吸光用照射光经过以下光路:到达上述基准光接收部的光路以及在透过上述光透过窗并经过上述气体流通室的检测空间后到达上述透过光接收部的光路,
上述信号处理部基于上述基准光接收部的基准光的受光量与上述透过光接收部的透过光的受光量之比来计算气体浓度。
4.根据权利要求1所述的气体分析仪,其特征在于,还设置有:
基准光接收部,其接收上述NO2气体吸光用照射光作为基准光;
光路决定部,其使上述NO2气体吸光用照射光经过以下光路:在透过上述光透过窗并经过上述气体流通室后到达上述透过光接收部的光路以及不经过上述气体流通室的检测空间而到达上述基准光接收部的光路;以及
校正部,其基于上述基准光接收部的基准光的受光量来控制上述NO2气体吸光用发光部的驱动电流。
5.根据权利要求1所述的气体分析仪,其特征在于,
上述驱动控制部对作为发光二极管即LED或激光二极管即LD的上述NO2气体吸光用发光部输出驱动电流,该驱动电流是使上述NO2气体吸光用发光部的输出和停止交替地进行的脉冲,具有使输出短于停止的占空比。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士电机株式会社,未经富士电机株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201380074284.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:对铁轨偏移进行成像和测量的系统
- 下一篇:光学装置