[发明专利]光扩散元件及光扩散元件的制造方法在审
申请号: | 201380075444.5 | 申请日: | 2013-04-10 |
公开(公告)号: | CN105103009A | 公开(公告)日: | 2015-11-25 |
发明(设计)人: | 中村恒三;武本博之;梅本清司 | 申请(专利权)人: | 日东电工株式会社 |
主分类号: | G02B5/02 | 分类号: | G02B5/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 葛凡 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 扩散 元件 制造 方法 | ||
技术领域
本发明关于一种光扩散元件及光扩散元件的制造方法。
现有技术
光扩散元件广泛用于照明灯罩、投影电视的屏幕、面发光装置(例如液晶显示设备)等中。近年来,光扩散元件对于液晶显示设备等显示质量的提高、视角特性的改善等利用取得进展。作为光扩散元件,提出有具有包含树脂成分及超微粒子成分的基质与分散在该基质中的光扩散性微粒的光扩散元件(例如参照专利文献1)。于该光扩散元件中,基质与光扩散性微粒具有折射率差,于光扩散性微粒的表面附近形成有超微粒子成分的重量浓度发生调制的区域(浓度调制区域),藉此表现光扩散性且抑制后方散射。但,上述光扩散元件一方面表现如上所述的效果,另一方面,入射光的一部分不受光扩散性微粒及浓度调制区域影响而透射、藉此就不扩散而直射方面而言仍有改善的余地。若直射光的量过多,则对液晶显示设备的显示质量、视角特性等造成不良影响。作为减少直射光的手段,可列举使光扩散元件增厚、增加微粒子数等。但,于使用这些手段的情形时,产生生产率恶化的问题、及后方散射变大而导致明处的对比度下降的问题。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利第04756099号
发明内容
发明所欲解决的问题
本发明为为了解决上述先前的问题而成者,其目的在于提供一种雾度值较高、具有较强的扩散性、抑制后方散射且降低直射光的透射的光扩散元件。
解决问题的技术手段
本发明的光扩散元件为具有包含树脂成分及超微粒子成分的基质、与分散在该基质中的光扩散性微粒的光扩散元件,在该光扩散性微粒的表面附近的外部,形成有随着远离该光扩散性微粒而该超微粒子成分的重量浓度变高的实质上为球壳状的浓度调制区域,该光扩散元件中的该光扩散性微粒的平均中心间距离A及该光扩散元件中的该光扩散性微粒的平均粒径B具有0.90<B/A的关系。
于优选的实施方式中,上述平均中心间距离A、上述平均粒径B、及上述浓度调制区域最外部与上述光扩散性微粒的表面的平均距离C满足0.91<(B+2×C)/A的关系。
于优选的实施方式中,上述平均中心间距离A、上述平均粒径B、及上述平均距离C满足A-(B+2×C)≤0.2μm的关系。
于优选的实施方式中,上述光扩散性微粒中含有上述树脂成分的一部分。
根据本发明的另一方式,提供一种上述光扩散元件的制造方法。该光扩散元件的制造方法包括:步骤A,将使基质的树脂成分的前体、超微粒子成分及光扩散性微粒溶解或分散在有机溶剂中而成的涂布液涂布于基材;步骤B,使涂布于该基材的涂布液干燥;及步骤C,使所述前体聚合,在该步骤C之前使该光扩散性微粒溶胀。
于优选的实施方式中,上述光扩散性微粒的配合量相对于上述基质100重量份为30重量份以下。
于优选的实施方式中,上述有机溶剂的SP值与上述光扩散性微粒的SP值的差为0.2~0.8。
于优选的实施方式中,上述有机溶剂为第1有机溶剂与第2有机溶剂的混合溶剂,该第1有机溶剂与该第2有机溶剂相比更容易渗透至上述光扩散性微粒中,且与该第2有机溶剂相比挥发性更高。
发明效果
根据本发明,于光扩散性微粒的表面附近形成有折射率发生调制的区域(超微粒子成分的浓度发生调制的浓度调制区域),藉此可抑制基质与光扩散性微粒的界面的反射,可抑制后方散射。进而,使基质中含有超微粒子成分,藉此可使基质与光扩散性微粒的折射率差变大。藉由这些协同效应,可实现雾度值较高、具有较强的扩散性且抑制后方散射的光扩散元件。进而,将光扩散元件中的光扩散性微粒的平均粒径B相对于该光扩散性微粒的平均中心间距离A的比率(B/A)设为特定值以上,藉此可减少俯视的情形时不存在光扩散性微粒的区域,并且亦可使形成于光扩散性微粒的表面附近的上述浓度调制区域所占的体积比率累积性增大。因此,可大幅度减少入射光不扩散而直射的区域(于俯视的情形时不存在光扩散性微粒且未形成浓度调制区域的区域)。其结果为,可大幅度抑制直射光的透射。根据本发明,可不增加光扩散性微粒数而抑制后方散射并且大幅度抑制直射光的透射。
附图说明
图1为用以对藉由本发明的优选的实施方式的制造方法所获得的光扩散元件的基质的树脂成分及光扩散性微粒的分散状态进行说明的模式图。
图2为对本发明的光扩散元件的光扩散性微粒附近进行放大并说明的模式图。
图3为用以对基质中的超微粒子成分的面积比率进行说明的透射式电子显微镜图像。
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