[发明专利]包括质量流量计和密度计的体积流量传感器系统在审

专利信息
申请号: 201380076124.1 申请日: 2013-04-30
公开(公告)号: CN105378439A 公开(公告)日: 2016-03-02
发明(设计)人: S.P.H.惠勒 申请(专利权)人: 高准公司
主分类号: G01F1/00 分类号: G01F1/00;G01F15/06
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 申屠伟进;陈岚
地址: 美国科*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 包括 质量 流量计 密度计 体积 流量传感器 系统
【权利要求书】:

1.一种流量率传感器系统(200),包括:

密度或比重计(202),包括传感器组件(204a)以及被配置成生成过程流体的密度或比重测量的密度或比重计量电子设备(204b);

质量流量计(203),包括传感器组件(205a)以及被配置成生成过程流体的质量流量率并且与密度或比重计量电子设备(204b)电气通信的质量流量计量电子设备(205b);以及

远程处理系统(207),与密度或比重计量电子设备(204b)或质量流量计量电子设备(205b)中的仅一个电气通信,并且被配置成接收由密度或比重计量电子设备(204b)或质量流量计量电子设备(205b)基于所生成的密度或比重测量和质量流量率生成的过程流体的测量。

2.权利要求1的流量率传感器系统(200),其中密度或比重计(202)的传感器组件(204a)和质量流量计(203)的传感器组件(205a)与承载过程流体的流体导管(201)定位成直线。

3.权利要求1的流量率传感器系统(200),其中质量流量计(203)的传感器组件(205a)与承载过程流体的流体导管(201)定位成直线,并且密度或比重计(202)的传感器组件(204a)位于耦合到流体导管(201)的滑流(401)中以接收过程流体的一部分。

4.权利要求1的流量率传感器系统(200),其中密度或比重测量和质量流量率实质上同时被生成。

5.权利要求1的流量率传感器系统(200),其中密度或比重测量包括平均密度或比重。

6.一种用于生成流体导管中的过程流体的流量率测量的方法,包括以下步骤:

利用包括与过程流体流体连通的传感器组件和密度或比重计量电子设备的密度或比重计来确定过程流体的密度或比重;

利用包括与过程流体流体连通的传感器组件和质量流量计量电子设备的质量流量计来确定过程流体的质量流量率;

在密度或比重计量电子设备与质量流量计量电子设备之间提供电气通信;

使用密度或比重计量电子设备或质量流量计量电子设备中的至少一个以基于所确定的密度或比重和所确定的质量流量率来确定过程流体的体积或能量流量;以及

将体积或能量流量提供给与密度或比重计量电子设备或质量计量电子设备中的仅一个电气通信的远程处理系统。

7.权利要求6的方法,其中密度或比重计的传感器组件和质量流量计的传感器组件与承载过程流体的流体导管定位成直线。

8.权利要求6的方法,其中质量流量计的传感器组件与承载过程流体的流体导管定位成直线,并且密度或比重计的传感器组件位于耦合到流体导管的滑流中以接收过程流体的一部分。

9.权利要求6的方法,其中密度或比重测量和质量流量率实质上同时被确定。

10.权利要求6的方法,其中密度或比重测量包括平均密度或比重。

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