[发明专利]检测物质的设备和制造这样的设备的方法

权利要求书

1.一种检测物质的设备，包括：

外壳，限定第一腔室；

衬底，耦接到所述外壳，所述衬底包括位于所述第一腔室内的纳米结构，所述纳米结构用于当暴露于物质时对所述物质作出反应；以及

第一加热器，位于所述第一腔室内，所述加热器用于加热所述物质的至少一部分以使所述设备准备好用于分析;

其中所述纳米结构包括柱形结构，所述柱形结构从衬底延伸并且响应于所述物质的蒸发而被拖拉在一起;

其中所述外壳是导电的，从而使得所述外壳能够充当用于采样的电子端子；

其中所述衬底包括表面增强拉曼光谱法衬底、自激表面增强拉曼光谱法衬底、增强荧光光谱法衬底或增强发光光谱法衬底中的至少一个。

2.权利要求1所述的设备，其中所述第一加热器包括电阻器。

3.权利要求1所述的设备，进一步包括位于所述第一腔室内的传感器，所述传感器用于测量所述物质的参数值，所述传感器不同于所述纳米结构。

4.权利要求3所述的设备，其中所述传感器包括电容器。

5.权利要求3所述的设备，其中所述参数值包括阻抗或电容中的至少一个。

6.权利要求1所述的设备，还包括围起所述第一腔室的至少一部分以保护所述纳米结构免于过早暴露的密封物。

7.权利要求6所述的设备，其中所述密封物包括透明材料、柔性材料、可移除材料或聚合物材料中的至少一个。

8.权利要求1所述的设备，其中所述外壳包括镍、金、铂、钯或铑。

9.权利要求1所述的设备，其中所述外壳包括孔板。

10.权利要求1所述的设备，其中所述外壳用金、钯或铑中的至少一个进行电镀。

11.权利要求1所述的设备，其中所述外壳限定第二腔室，所述纳米结构附加地位于所述第二腔室内。

12.权利要求11所述的设备，进一步包括位于所述第二腔室内的第二加热器，所述第二加热器用于加热所述物质的至少一部分以缩短直到所述第二腔室准备好用于分析的时间。

13.一种检测物质的设备，包括：

外壳，限定腔室；

衬底，耦接到外壳，所述衬底包括位于所述腔室内的纳米结构，所述纳米结构用于在暴露于物质时对所述物质作出反应；以及

传感器，位于所述腔室内，所述传感器用于测量所述物质的参数值，所述传感器不同于所述纳米结构；

其中所述纳米结构包括柱形结构，所述柱形结构从衬底延伸并且响应于所述物质的蒸发而被拖拉在一起；

其中所述外壳是导电的，从而使得所述外壳能够充当用于采样的电子端子；

其中所述衬底包括表面增强拉曼光谱法衬底、自激表面增强拉曼光谱法衬底、增强荧光光谱法衬底或增强发光光谱法衬底中的至少一个。

14.一种制造检测物质的设备的方法，包括：

将心轴浸入电镀液中以形成外壳，所述心轴包括与所述外壳的期望的孔或结构对应的图案或结构；

将所述外壳从所述心轴移除；以及

将所述外壳耦接到衬底，所述外壳用于限定加热器和衬底的纳米结构所位于其中的腔室，所述纳米结构用于在暴露于所述物质的情况下对所述物质作出反应;

其中所述纳米结构包括柱形结构，所述柱形结构从衬底延伸并且响应于所述物质的蒸发而被拖拉在一起；

其中所述外壳是导电的，从而使得所述外壳能够充当用于采样的电子端子；

其中所述衬底包括表面增强拉曼光谱法衬底、自激表面增强拉曼光谱法衬底、增强荧光光谱法衬底或增强发光光谱法衬底中的至少一个。