[发明专利]调用错误处理程序来处理无法纠正的错误

说明书

检测器使用错误码检测存储在存储器中的数据中的错误。该检测器确定该错误是否使用错误码无法纠正。响应于确定错误是无法纠正的，与应用程序相关联的错误处理程序被调用以通过恢复数据到应用范围一致状态来处理数据中的错误。

背景技术

电子设备中的存储器容易受到错误损害。例如，电或磁干扰可能致使存储在存储器内的数据位无意中改变状态。为了减低这样的数据错误，除了数据外，错误保护位也可以被存储在存储器中。存储器控制器可以使用错误保护位来检测并纠正数据错误。错误保护位的示例包括错误检查和纠正(ECC)码。

ECC码可以被用于多达指定位数的检测和纠正(例如一位错误、两位错误等等)。如果数据错误涉及超过指定位数的错误，则ECC码将不可用来纠正数据错误，并且将指示故障状态。

附图说明

关于以下附图描述了一些实施例：

图1是根据一些实施方式的错误检测和纠正过程的流程图；

图2是根据一些实施方式的示例性电子设备的框图；以及

图3是根据替代实施方式的错误检测和纠正过程的流程图。

具体实施方式

数据中心可以包括相对大量的组件，包括处理器、存储器设备、持久存储设备、网络组件和其他设备。存储器设备可以是系统故障的重要来源，特别是如果在数据中心中有相对大量的存储器设备的情况下。存储器设备的示例包括动态随机存取存储器(DRAM)设备、闪速存储器设备、相变存储器设备、忆阻器存储器设备、基于磁盘的存储设备或其他类型的存储器设备。

错误检查和纠正(ECC)码可以被存储在存储器设备中，以检测和纠正存储在存储器设备中的数据中的错误。ECC码的示例是单位错误纠正和双位错误检测(SECDED)码，其能够检测多达两位的数据错误，并纠正单位错误。为了更强的保护，其他纠错技术可以采用ECC码来防范诸如存储器设备(也被称为存储器芯片)之类的整个设备的故障。这样的纠错技术的示例可以包括芯片删除(chipkill)纠正技术、单芯片备用(SCS)技术或单设备数据纠正(SDDC)技术。上述纠错技术可以容忍列(rank)内的整个存储器设备的故障，其中列是指涉及服务存储器请求的一组存储器设备。

在其他示例中，可以提供ECC码以容忍两个存储器设备的故障。这样的纠错技术的示例包括双芯片删除纠正技术、双芯片备用(DCS)技术或双设备数据纠正(DDDC)技术。

使用更强的纠错技术所增加的可靠性可能会以增加的功率使用和潜在降低的系统性能为代价而达到。例如，更强的纠错技术可能涉及某些存储器排列的使用，某些存储器排列包括每列更大量的存储器设备，这导致增加的功率使用。此外，更强的纠错技术可以使用存储器排列，该存储器排列采用高速缓存存储器中更大的高速缓存行，从性能的角度来看这可能是低效的。

使用存储在存储器(其中“存储器”可以指一个或多个存储器设备)中的ECC码的错误检测和纠正通过使用错误检测和纠正电路来执行，错误检测和纠正电路可以用硬件实现。在随后的讨论中，错误检测和纠正电路被称为“错误检测器”。错误检测器可以仅用硬件实现。替代地，错误检测器可以被实现为硬件和机器可读指令(例如固件或软件)的组合。

在随后的讨论中，假定错误检测器是基于硬件的错误检测器。然而，在替代实施方式中，可以设想到错误检测器可以是硬件和机器可读指令的组合。

为了提高性能和降低功耗，根据一些实施方式的错误检测器可以采用不太健壮的纠错技术，其中错误检测器能够调用单独的错误处理程序来处理不可以由错误检测器纠正的数据错误。不太健壮的纠错技术是指这样的一种纠错技术，其能够纠正比另一个纠错技术数量少的数据错误位。例如，可以采用不太健壮的纠错技术，诸如SECDED纠错技术，来代替使用可以承受整个存储器设备或多个存储器设备的错误的纠错技术。然而，在替代示例中，错误检测器能够实现可以纠正与列中的一个或多个存储器设备的故障相关联的错误的纠错技术。