[发明专利]用于井筒电阻率测井校准的方法和系统

权利要求书

1.一种用于沿着井筒部署的测井工具的现场校准的方法，所述方法包括：

将所述测井工具延伸到所述井筒内，所述测井工具包括控制中心；

使用所述测井工具采集地层的第一测量信号，其中所述采集的第一测量信号是包括低到足以使得所述采集的第一测量信号不会受所述地层的变化影响的频率的低频信号；

由所述控制中心模拟所述地层的第二测量信号；

由所述控制中心基于所述采集的第一测量信号与所述模拟的第二测量信号之间的比较来计算校准系数；

使用所述测井工具采集所述地层的第三测量信号，其中所述第一、第二和第三测量信号对应于所述测井工具的相同发射器-接收器对；以及

使用所述校准系数来校准所述采集的第三测量信号，

其中由所述控制中心模拟所述第二测量信号还包括：

使用所述测井工具采集所述地层的参考测量信号；

使用所述采集的参考测量信号来计算所述地层的层电阻率数据；

沿着所述井筒选择一组校准深度；以及

使用所述层电阻率数据来在所选校准深度处模拟所述第二测量信号。

2.如权利要求1所述的方法，其中所述采集的第一测量信号、模拟的第二测量信号和采集的第三测量信号全部是深测量信号。

3.如权利要求1所述的方法，其中所述参考测量信号是浅测量信号。

4.如权利要求1所述的方法，其中在与所选的一组校准深度中的至少一者对应的深度处采集所述第一测量信号。

5.如权利要求1所述的方法，其中：

在所述地层的第一校准区内采集所述参考测量信号，所述第一校准区是井筒深度的第一范围；

在所述第一校准区内采集所述第一测量信号；

在所述第一校准区内模拟所述第二测量信号；以及

在沿着与所述第一校准区不同的井筒深度的第二范围定位的应用区内采集所述第三测量信号。

6.如权利要求1所述的方法，其中选择所述一组校准深度还包括：

产生多个采集的第一测量信号的测井响应；以及

沿着所述测井响应选择与零斜率对应的那些校准深度。

7.如权利要求1所述的方法，其中所述采集的第一和第三测量信号是深测量信号。

8.如权利要求1所述的方法，其中所述模拟的第二测量信号是基本上深度不变的。

9.如权利要求1所述的方法，其中：

在所述地层的第一校准区内采集所述第一测量信号，所述第一校准区是井筒深度的第一范围；

在所述第一校准区内模拟所述第二测量信号；以及

在沿着与所述第一校准区不同的井筒深度的第二范围定位的应用区内采集所述第三测量信号。

10.如权利要求5或9所述的方法，其还包括：

在所述地层的第二校准区内采集第四测量信号，所述第二校准区是与所述第一校准区不同的井筒深度的第三范围；以及

校准所述采集的第四测量信号。

11.如权利要求1所述的方法，其中计算所述校准系数还包括利用校准模型沿着所述地层的校准区来计算多个校准系数，所述校准区是井筒深度的第一范围，其中所述第三测量信号是在沿着与所述校准区不同的井筒深度的第二范围定位的应用区内采集并校准的。

12.如权利要求1所述的方法，其中计算所述校准系数还包括利用校准模型沿着所述地层的校准区来计算多个校准系数，所述校准区是井筒深度的第一范围，其中所述第三测量信号是在所述校准区内采集并校准的。

13.如权利要求11或12所述的方法，其中所述校准模型是多项式函数。