[发明专利]雪崩光电二极管有效

专利信息
申请号: 201380077525.9 申请日: 2013-08-28
公开(公告)号: CN105637657B 公开(公告)日: 2017-12-15
发明(设计)人: 潘旭 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: H01L31/107 分类号: H01L31/107
代理公司: 深圳中一专利商标事务所44237 代理人: 张全文
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 雪崩 光电二极管
【权利要求书】:

1.一种雪崩光电二极管,其特征在于,所述雪崩光电二极管包括:P型接触层、光吸收层、组分渐变对称倍增层和N型接触层,

其中,所述P型接触层与所述光吸收层相连,所述光吸收层与所述组分渐变对称倍增层相连,所述组分渐变对称倍增层与所述N型接触层相连;

所述组分渐变对称倍增层,用于放大电信号,所述组分渐变对称倍增层呈中心对称结构,由多个渐变层组成。

2.根据权利要求1所述的雪崩光电二极管,其特征在于,所述雪崩光电二极管的材料为SiGe材料。

3.根据权利要求2所述的雪崩光电二极管,其特征在于,所述雪崩光电二极管还包括:电荷层,

所述电荷层,用于调节各层的电场分布,所述电荷层的掺杂浓度大于等于1017/cm3,所述电荷层的厚度范围为50nm-200nm,所述电荷层位于所述光吸收层和所述对称渐变倍增层之间。

4.根据权利要求2所述的雪崩光电二极管,其特征在于,所述P型接触层的掺杂浓度大于等于1019/cm3,所述P型接触层的厚度范围为100nm-200nm。

5.根据权利要求2所述的雪崩光电二极管,其特征在于,所述光吸收层的厚度范围为200nm-2000nm。

6.根据权利要求2所述的雪崩光电二极管,其特征在于,所述光吸收层为P掺杂光吸收层,所述P掺杂光吸收层的掺杂浓度大于等于1017/cm3

或,

所述光吸收层为非掺杂光吸收层,所述非掺杂光吸收层的掺杂浓度小于等于1016/cm3

7.根据权利要求1所述的雪崩光电二极管,其特征在于,所述N型接触层的掺杂浓度大于等于1019/cm3,所述N型接触层与所述组分渐变对称倍增层相连。

8.根据权利要求1所述的雪崩光电二极管,其特征在于,所述组分渐变对称倍增层的组分为晶格失配材料对称分布,所述对称分布是指随着所述渐变层在所述组分渐变对称倍增层的位置的变化,所述渐变层中第一晶体材料的含量从0递增到100%,再从100%递减到0。

9.根据权利要求1所述的雪崩光电二极管,其特征在于,所述组分渐变对称倍增层中两端材料的禁带宽度小于所述渐变层的禁带宽度。

10.根据权利要求1所述的雪崩光电二极管,其特征在于,所述组分渐变对称倍增层中各个渐变层的厚度小于等于所述各个渐变层的倍增载流子的离化率的倒数。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华为技术有限公司,未经华为技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201380077525.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top