[发明专利]用于分析轮胎面参数的系统和方法

权利要求书

1.一种用于分析踏面数据以评估轮胎胎面的一个或多个参数的方法，其包括：

获得所述轮胎的所述胎面的踏面映射，所述踏面映射包括多个数据点，每个数据点提供所述轮胎的所述胎面的胎面高度；

通过计算装置处理所述踏面映射以产生所述踏面映射的凸包，所述凸包包括包覆所述踏面映射的三维壳层，在围绕所述凸包的所有点处所述凸包是凸面的；

通过所述计算装置至少部分地基于所述踏面映射和所述凸包确定相对胎面深度映射；以及

分析所述相对胎面深度映射以评估所述轮胎的所述胎面的一个或多个参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述方法包括过滤所述踏面映射。

3.根据权利要求1所述的方法，其中处理所述踏面映射以产生凸包包括对所述踏面映射执行狄洛尼三角剖分(Delaunay triangulation)过程。

4.根据权利要求3所述的方法，其中所述狄洛尼三角剖分过程将所述凸包建模为多个狄洛尼三角形。

5.根据权利要求1所述的方法，其中所述方法包括在处理所述踏面映射以产生所述凸包之前修改所述踏面映射。

6.根据权利要求5所述的方法，其中在处理所述踏面映射以产生凸包之前修改所述踏面映射包括在周向上延伸所述踏面映射。

7.根据权利要求5所述的方法，其中在处理所述踏面映射以产生凸包之前修改所述踏面映射包括：

确定所述踏面映射的剖面；

通过将所述剖面的斜率与阈值斜率进行比较来检测所述踏面映射的所述剖面的第一限制；

通过将所述剖面的斜率与所述阈值斜率进行比较来检测所述踏面映射的所述剖面的第二限制；

通过执行在所述第一限制处开始并且斜率等于所述阈值斜率的直线的线性外插来修改所述踏面映射上的第一点；以及

通过执行在所述第二限制处开始并且斜率等于所述阈值斜率的直线的线性外插来修改所述踏面映射上的第二点。

8.根据权利要求7所述的方法，其中修改所述踏面映射上的所述第一点以及修改所述踏面映射上的所述第二点包括实施局部最大值过滤。

9.根据权利要求5所述的方法，其中在处理所述踏面映射以产生凸包之前修改所述踏面映射包括：

确定在所述踏面映射的剖面的中心处具有最大值的弯曲曲线；以及

通过确定所述踏面映射与所述弯曲曲线之间的差来修改所述踏面映射。

10.根据权利要求5所述的方法，其中在处理所述踏面映射以产生凸包之前修改所述踏面映射包括压紧所述踏面映射以沿着所述胎面的圆周的一部分延伸。

11.根据权利要求1所述的方法，其中至少部分地基于所述踏面映射和所述凸包确定相对胎面深度映射包括确定所述凸包与所述踏面映射之间的差。

12.根据权利要求1所述的方法，其中从激光探针、声波探针、光探针或视频探针产生所述踏面映射。

13.根据权利要求1所述的方法，其中所述轮胎的所述胎面的所述一个或多个参数包括所述轮胎的所述胎面的不规律磨损特征。

14.根据权利要求1所述的方法，其中所述轮胎的所述胎面的所述一个或多个参数包括所述轮胎的所述胎面的凹槽深度。

15.一种用于分析踏面数据以评估轮胎胎面的一个或多个参数的系统，所述系统包括：

适合于测量所述轮胎的所述胎面的踏面映射的激光探针，所述踏面映射包括多个数据点，每个数据点提供所述轮胎的所述胎面的胎面高度；

具有一个或多个处理器和一个或多个计算机可读媒体的计算系统，所述一个或多个处理器经配置以执行存储于所述一个或多个计算机可读媒体中的计算机可读指令以使得所述一个或多个处理器执行操作，所述操作包括：

处理所述踏面映射以产生所述踏面映射的凸包，所述凸包包括包覆所述踏面映射的三维壳层，在围绕所述凸包的所有点处所述凸包是凸面的；

至少部分地基于所述踏面映射和所述凸包确定相对胎面深度映射；以及

分析所述相对胎面深度映射以评估所述轮胎的所述胎面的一个或多个参数。