[发明专利]混合光子计数数据采集系统有效

专利信息
申请号: 201380079883.3 申请日: 2013-09-25
公开(公告)号: CN105593701B 公开(公告)日: 2019-05-17
发明(设计)人: 道格拉斯·Q·阿布拉罕;巴萨克·乌尔卡·卡贝亚 申请(专利权)人: 模拟技术公司
主分类号: G01T1/17 分类号: G01T1/17
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 徐川;姚开丽
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 混合 光子 计数 数据 采集 系统
【权利要求书】:

1.一种光子计数探测器阵列的电子装置,该电子装置包括:

积分电路,该积分电路被配置成对所述光子计数探测器阵列的探测器单元所生成的电荷进行积分,以生成电压信号;

光子计数电路,该光子计数电路被配置成接收来自所述积分电路的所述电压信号并根据所述电压信号识别探测事件;以及

电荷源,该电荷源被配置成响应于所述电压信号超过指定阈值将注入电荷注入所述积分电路并注入所述光子计数电路,该注入电荷被配置成重置所述积分电路。

2.根据权利要求1所述的电子装置,其中,所述注入电荷与所述积分电路中所储存的储存电荷基本成反比。

3.根据权利要求1所述的电子装置,其中,所述指定阈值是所述光子计数电路的信噪比的函数,所述信噪比是根据探测器单元的最大可计数光子通量率确定的。

4.根据权利要求1所述的电子装置,其中,辐射源被配置成向所述光子计数探测器阵列发射辐射,并且基于施加于所述辐射源的源电压来设置所述注入电荷以产生辐射。

5.根据权利要求1所述的电子装置,该电子装置包括:

比较器,该比较器被配置成响应于所述电压信号超过所述指定阈值生成开关信号。

6.根据权利要求5所述的电子装置,该电子装置包括:

开关元件,该开关元件被配置成响应于接收到所述开关信号将所述电荷源电耦接至所述积分电路。

7.根据权利要求1所述的电子装置,其中,所述指定阈值是在所述重置之前期望计得的光子数量的函数。

8.根据权利要求7所述的电子装置,其中,所述期望计得的光子数量是与所述积分电路相关联的期望积分噪声的函数。

9.根据权利要求1所述的电子装置,该电子装置包括计数器块,该计数器块被配置成对测量区间期间所述积分电路的重置进行计数,以确定所述探测器单元的辐射探测元件在该测量区间中所输出的平均电流。

10.一种用于对光子计数探测器阵列的积分电路进行重置的方法,该方法包括:

测量所述积分电路生成的电压信号,该电压信号由所述光子计数探测器阵列的探测器单元所生成的电荷产生,该电压信号指示出从所述积分电路的上一次重置起探测器单元上的探测事件的数量;

当所述电压信号超过指定阈值时,将注入电荷注入所述积分电路,该注入电荷被配置成重置所述积分电路;

将所述电压信号和所述注入电荷施加到光子计数电路中;以及

根据所述电压信号探测所述光子计数电路处的探测事件。

11.根据权利要求10所述的方法,其中,所述注入电荷与从所述积分电路的所述上一次重置起所述积分电路所储存的储存电荷具有相反的极性。

12.根据权利要求11所述的方法,其中,所述注入电荷与所述储存电荷基本上成比例。

13.根据权利要求10所述的方法,该方法包括:

确定施加于辐射源的源电压,该辐射源被配置成将所述光子计数探测器阵列暴露于辐射中;以及

根据所述源电压设置所述指定阈值。

14.根据权利要求10所述的方法,该方法包括:

确定施加于辐射源的源电压,该辐射源被配置成将所述光子计数探测器阵列暴露于辐射中;以及

根据所述源电压建立所述注入电荷。

15.根据权利要求10所述的方法,其中,所述注入电荷被配置成与从所述积分电路的所述上一次重置起所述积分电路所储存的储存电荷相抵消。

16.一种辐射成像系统,其包括:

电离辐射源;以及

光子计数探测器阵列,其包括一个或多个探测器单元,该一个或多个探测器单元被配置成探测来自于所述电离辐射源的辐射,第一探测器单元包括:

辐射转换元件,该辐射转换元件被配置成将所述第一探测器单元探测到的辐射转换成电荷;以及

电子装置,该电子装置被配置成根据所述电荷来确定所述第一探测器单元上的探测事件的数量,该电子装置包括:

积分电路,该积分电路被配置成对所述电荷进行积分以生成电压信号;

光子计数电路,该光子计数电路被配置成接收所述电压信号并根据所述电压信号识别探测事件;以及

电荷注入电路,该电荷注入电路被配置成响应于所述电压信号超过指定阈值将注入电荷注入所述积分电路并注入所述光子计数电路。

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