[发明专利]支持电磁谐振和磁致谐振的谐振腔及具有该谐振腔的器件无效
申请号: | 201410001837.8 | 申请日: | 2014-01-02 |
公开(公告)号: | CN103746164A | 公开(公告)日: | 2014-04-23 |
发明(设计)人: | 崔铁军;万向 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | H01P7/10 | 分类号: | H01P7/10 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
地址: | 210096 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 支持 电磁 谐振 谐振腔 具有 器件 | ||
技术领域
本发明涉及谐振腔,尤其是一种基于新型人工电磁材料的、同时支持电磁谐振和磁致谐振的谐振腔。
背景技术
在新型人工材料的设计中,双开口环通常被视为等效媒质,而忽略双开口环之间的耦合作用。但是当双开口环靠的比较近时,这种相互耦合会产生磁致波,这种磁致效应通常被认为对基于等效媒质涉及的器件是有害的。
发明内容
发明目的:提供一种能够同时支持电磁谐振和磁致谐振的谐振腔,并进一步提供基于这种谐振腔的器件,将电磁谐振和磁致谐振集成在同一个谐振腔中,并且两种谐振的最低阶模式均发生在传统谐振腔的截止频段,从而实现器件的深度小型化。
技术方案:一种支持电磁谐振和磁致谐振的谐振腔,包括设有若干金属通孔的介质层,设置在介质层的双开口谐振环,分别设置在介质层两面的第一金属层和第二金属层,以及激励谐振腔的第一端口和第二端口;金属通孔、第一金属层和第二金属层围成谐振腔,所述双开口谐振环位于该谐振腔中。
所述双开口谐振环设置于谐振腔的一侧。当位于第一端口和第二端口的电流探针对谐振腔进行激励时,其中一处的电流探针位于双开口谐振环处,另一处的电流探针远离双开口谐振环。
一种具有上述支持电磁谐振和磁致谐振的谐振腔的器件。
有益效果:双开口谐振环设置在谐振腔中,当谐振腔被激励时,一部分能量被耦合产生电磁谐振,此时双开口谐振环中的感应电流相位基本同相,可以被视为等效媒质;而另一部分能量被双开口谐振环直接耦合产生磁致谐振,此时双开口环中的感应电流相位相差较大,不能被视为等效媒质,因此产生了基于不同物理的谐振。本发明提高了谐振腔在应用中的集成度;而且两种谐振的频率间隔突破了传统谐振频率只能是谐波的限制。
附图说明
图1为本发明的结构透视图。
图2为本发明的双开口谐振环及谐振腔中相对关系图。
图3为本发明双开口谐振环的结构示意图。
图4为本发明第一金属层的结构示意图。
图5为在本发明第一端口激励谐振腔时仿真和测试结果图。
图6为在本发明第二端口激励谐振腔时仿真和测试结果图。
图7为在本发明第一端口激励谐振腔时仿真和测试结果图。
图8为在本发明第二端口激励谐振腔时仿真和测试结果图。
图9、图10和图11为本发明对谐振环提取的媒质参数εz、μx 和μy的示意图。
图12和图13分别为本发明在2.5GHz、4.44GHz时仿真的z方向电场分布图。
图14和图15分别为本发明在2.86GHz、5.82GHz时感应电流的分布图。
图16和图17分别为本发明在2.86GHz、5.82GHz时仿真的z方向电场分布图。
具体实施方式
如图1至图4所示,本发明支持电磁谐振和磁致谐振的谐振腔包括介质层1、第一金属层2、金属通孔3、双开口谐振环4和第二金属层5。介质层1上设有若干金属通孔3,这些金属通孔围成一个矩形的区域,双开口谐振环4设置在介质层上的矩形区域内,且靠一侧设置,例如在图2中,它设置在左边。第一金属层2和第二金属层5分别设置在介质层两面。金属通孔、第一金属层和第二金属层围成一谐振腔,双开口谐振环位于该谐振腔中。
第一金属层2包括第一端口21和第二端口22,当位于第一端口和第二端口的电流探针对谐振腔进行激励时,其中一处的电流探针位于双开口谐振环,另一处的电流探针原理双开口谐振环。也就是说,双开口谐振环的设置位置应该符合相关条件,使得当谐振腔由伸入的电流探针激励时,其中一个端口处的探针在双开口谐振环的上方,使得一部分能量被双开口谐振环直接耦合;而另一探针应避免在双口谐振环的上方,使得没有能量被双开口谐振环直接耦合。
如图5所示,当在第一端口激励谐振腔时,可以很清楚的看到四个谐振点,分别为2.5GHz,2.86GHz,4.44GHz和5.82GHz,并且这四个谐振点发生在现有基片集成谐振腔的截止频段。
如图6所示,当在第二端口激励谐振腔时,可以看到只有2.5GHz和4.44GHz对应的频率被激励,由于端口2没有能量被双开口谐振环直接耦合,证明这两个谐振点为电磁谐振。
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