[发明专利]智能卡测试装置在审

专利信息
申请号: 201410004744.0 申请日: 2014-01-06
公开(公告)号: CN104765677A 公开(公告)日: 2015-07-08
发明(设计)人: 安晨;王征 申请(专利权)人: 上海华虹集成电路有限责任公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 戴广志
地址: 201203 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 智能卡 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种智能卡测试装置,其特征在于,包括:一台PC机,一片C8051芯片,一片FPGA;

所述PC机,采用图形化界面方式运行上位机软件;

所述C8051芯片,接受所述上位机软件的指令并与FPGA通信;

所述FPGA,直接受C8051芯片控制,用于调节7816接口的时钟频率和占空比,通过7816接口对智能卡进行测试。

2.如权利要求1所述的装置,其特征还在于:所述时钟频率由时钟周期指定,最小调节精度是5ns;时钟占空比由高电平所持续的时间决定,最小调节精度是5ns。

3.如权利要求1所述的装置,其特征还在于:所述FPGA具有记录7816接口波形的功能,并上传给所述上位机软件供使用者查看。

4.如权利要求1至3任一所述的装置,其特征还在于:所述FPGA采用其内部块RAM存储7816接口的波形;当所述上位机软件下达开始存储波形指令后,所述FPGA启动计时器,并开始监测7816接口信号的状态;7816接口每发送或接收一个字节后,所述FPGA记录下该字节的发生时刻、状态和数据内容;所述上位机软件下达停止存储波形指令后,所述FPGA将存储的波形信息从所述块RAM中读出,上传给上位机软件显示。

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