[发明专利]一种放射性样品活度检测系统

说明书

技术领域

本发明涉及检测技术领域，尤其涉及核工业中射线测量与应用领域的测量仪器系统。

背景技术

在核工业或与核相关的应用领域中常常会涉及到对多种放射性样品活度的测量，这些放射性样品一般会有α、β或γ放射性。通常采用对相应射线敏感的探测器对放射性样品测量，每探测到一个射线粒子就会输出一个电压或电流脉冲信号，经过信号放大器和信号调理电路后形成可输出到定标器或数据采集卡的脉冲信号。

传统的放射性样品活度检测是通过一个探测器对应一个放射性样品进行测量来实现，这种测量方式在面临大数量的待测放射性样品时，工作效率低下，操作繁琐，检测时间成本较高。随着技术改进，为提高测量效率，出现多个探测器同时进行测量的系统，但是该系统的多个探测器的个体差异大，造成测量误差大，不能满足高精度测量要求。所以，设计一种实现多个探测器同时进行测量、又能减小不同探测器个体差异带来的测量误差的放射性样品活度检测系统具有重大意义。

发明内容

本发明实施例提供一种放射性样品活度检测系统，其目的在于解决实现多个探测器同时进行测量、又能减小不同探测器个体差异带来的测量误差的问题。

根据本发明的第一方面，提供一种放射性样品活度检测系统，其包括：输送装置，其用于输送至少一个样品；检测装置，其位于所述输送装置的上方，所述检测装置用于检测所述至少一个样品的放射性并输出检测数据；通信调理装置，其用于从所述检测装置接收所述检测数据并进行处理；数据采集装置，其用于从所述通信调理装置接收经处理的检测数据并输出采集数据；以及上位机，其向所述输送装置、所述检测装置和所述通信调理装置输出控制信号，并接收所述数据采集装置输出的采集数据。

根据本发明的第二方面，所述输送装置包含：固定盘，其具有允许所述至少一个样品穿过的第一通孔；转盘，其位于所述固定盘上方和所述检测装置下方，所述转盘绕垂直于所述转盘平面并经过所述转盘的转轴旋转，所述转盘具有容纳所述样品的至少一个第二通孔，所述转盘在旋转时使所述至少一个第二通孔中容纳的样品受到所述检测装置的检测；以及第一输送机构，其位于所述转盘上方，用于将所述至少一个样品输送到所述转盘的至少一个第二通孔中。

根据本发明的第三方面，在所述至少一个第二通孔中容纳的样品受到所述检测装置的检测之后，当容纳该样品的至少一个第二通孔经过所述第一通孔的正上方时，该样品穿过所述第一通孔落下。

根据本发明的第四方面，所述输送装置还包含：第二输送机构，其位于所述固定盘下方，用于输送穿过所述第一通孔落下的样品；或者收集容器，其位于所述固定盘下方，用于收集穿过所述第一通孔落下的样品。

根据本发明的第五方面，所述第一通孔为椭圆形并且所述至少一个第二通孔为圆形，所述第一通孔的尺寸不小于所述至少一个第二通孔的尺寸，并且所述椭圆的短轴的一端的延长线与所述转轴交叉。

根据本发明的第六方面，当所述转盘具有至少三个第二通孔时，相邻的两个第二通孔的圆心之间的距离相等，并且相邻的两个第二通孔的圆心距所述转轴的距离相等。

根据本发明的第七方面，当所述第一通孔为椭圆形时，该椭圆的中心距所述转轴的距离与所述圆的圆心距所述转轴的距离相等，并且该椭圆的短轴的长度不小于所述圆形的直径的长度。

根据本发明的第八方面，所述固定盘设置有第一定位器，所述第一定位器用于检测所述转盘是否旋转一周，并且所述转盘设置有第二定位器，所述第二定位器用于检测所述转盘相对于所述检测装置的初始位置。

根据本发明的第九方面，所述检测装置包含至少一个铅室，所述至少一个铅室中的每个铅室朝向所述转盘的一端均设置有开口，并且所述每个铅室内均安装有用于检测所述至少一个样品的至少一个探测器。

根据本发明的第十方面，当所述转盘旋转时，所述至少一个第二通孔依次经过所述每个铅室的正下方，并且当所述至少一个第二通孔之一位于所述至少一个铅室之一的正下方时，其余的第二通孔中的一部分或全部位于其余铅室的正下方。

上述技术方案具有如下有益效果：因为采用本发明实施例提供的一种放射性样品活度检测系统，所以减少了探测器个体差异带来测量误差的同时，实现多个探测器同时测量，大大地提高了放射性样品活度检测的效率和精度。

附图说明