[发明专利]大功率LED可靠性试验的结温监测电路系统有效
申请号: | 201410006434.2 | 申请日: | 2014-01-07 |
公开(公告)号: | CN103728037B | 公开(公告)日: | 2017-01-11 |
发明(设计)人: | 陈全;许明耀;刘胜 | 申请(专利权)人: | 武汉纺织大学 |
主分类号: | G01K7/00 | 分类号: | G01K7/00;G01R31/26 |
代理公司: | 北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙)11368 | 代理人: | 郭官厚 |
地址: | 430073 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 大功率 led 可靠性 试验 监测 电路 系统 | ||
1.一种大功率LED可靠性试验的结温监测电路,其特征在于:包括驱动恒流源模块(500)、测试恒流源模块(400)、快速切换模块(100)、所述延时采样模块(200)和自定标模块(300),其中,
所述驱动恒流源模块电连接待测LED,对所述待测LED进行加热;
所述测试恒流源电路电连接所述待测LED,提供所述待测LED测试所需的电流;
所述快速切换模块,用于控制所述的驱动恒流模块的输出电流在所述待测LED的加热周期作用于待测发光二极管,测试周期被旁路到地;
所述延时采样模块,连接晶振(201)并通过所述晶振提供标准时钟信号,产生控制脉冲时序,基于所述控制脉冲时序采集所述测试恒流源模块输出的所述待测LED(10)在所述的测试电流周期下的正向电压;
所述自标定模块电连接第三数字电压计(301),所述自标定模块通过比较待测LED和参考LED,消除待测LED由电流引起的物性变化,在线监测待测LED在不同可靠性环境下的结温,获取所述待测LED由温度效应引起的电压变化,并将所述电压输出至所述第三数字电压计进行显示;
所述系统还包括用于取样监测所述测试恒流源模块输出电流的第一取样电阻(Rts)及第一数字电压计(401),用于取样监测所述驱动恒流源模块输出电流的第二取样电阻(Rds)及第二数字电压计(501)。
2.根据权利要求1所述的大功率LED可靠性试验的结温监测电路系统,其特征在于:所述延时采样电路包括串联连接的第一计数器和第二计数器,所述第一计数器和第二计数器的时钟端连接晶振,所述晶振输出时钟信号,所述第一计数器(U201)和第二计数器(U202)的输出端分别与第一与非门(U203)的两个输入端相连,构成一个分频电路,所述第一与非门的输出端连接第二与非门的一输入端,所述分频电路输出采样脉冲至所述第二与非门(U204),单刀双掷开关(S201)的动端连接参考电压+12V,一个不动端子为标定端,另一个不动端子为测试端,所述标定端悬空连接呈高阻态,所述测试端连接所述第二与非门的二输入端,第一滤波电阻(R201)串联第一滤波二级管(D201),第二滤波电阻(R202)和所述第一滤波电容分别连接所述单刀双掷开关的测试端到地,用于滤除杂波和状态提示;
第三电阻(R203)和第一电容(C203)构成的充放电回路与第三与非门(U204)输出端相连,通过第四与非门(U205)和第一或非门(U207)构成的与或运算电路输出延时采样信号,通过第二或非门(U206)和第三或非门(U208)构成的或运算电路输出驱动脉冲信号;所述待测LED的P端连接至由第一运放(A201)构成的电压跟随器的同相输入端,所述第一运放(A201)的输出连接至由第四电阻(R204),模拟开关A和第二电容(C204)构成的模拟采样电路,所述的模拟开关A的控制端连接所述的延时采样脉冲信号,所述的模拟开关A的输出接至由第二运放(A202)构成的电压跟随器的同相输入端,输出采样信号;
当所述的单刀双掷开关(S201)置于标定端时,第三与非门(U204)在一端为低电平输入下,输出为高电平,所述的延时采样脉冲和所述的驱动脉冲信号均为高电平,模拟开关A导通,采样信号为待测LED的正向电压;
当所述的单刀双掷开关S201置于测试端时,所述的第三与非门U204输出为所述的占空比为1%的采样脉冲,在所述的延时采样脉冲信号高电平周期,模拟开关A导通,输出待测发光二级管的正向电压,在所述的延时采样脉冲信号低电平周期,模拟开关A截止,采样信号进入保持状态。
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