[发明专利]具有改进的摆动保真度的引脚驱动器电路

说明书

背景技术

在电子装置测试中，测试系统上的引脚驱动器可以在特定时间对被测装置（DUT）提供电压脉冲刺激，并且可以测量来自DUT的响应，以确定该DUT是否满足其装置规范的参数范围。测试系统的质量可以由它所提供的电压脉冲的波形保真度（理想性（ideality））和定时精度决定。在电压电平过渡期间可能产生电压脉冲中的杂散信号（开关瞬变），并且可能同时影响保真度和定时精度。

理想的电压电平过渡可以定义为两个电压电平之间的线性电压过渡。实际的电压电平过渡可能包含由杂散信号导致的偏差，如过冲、下冲、预过冲（pre-shoots）和非线性转换。这些偏差负面地影响定时精度且需要将其减到最小。

杂散信号可能由测试系统的电压驱动器电路中的寄生电容导致。主要的寄生电容源可能包括金属互连布线和装置结电容，这些都与电压驱动器电路中的物理开关/晶体管尺寸相关。

为了测试多种多样的电子装置，自动测试系统可能需要使用不同的技术以不同电压极限之间的电压电平过渡来驱动引脚。例如，存储器装置通常可能使用“A类”技术来予以测试，这可能需要有限的电压摆动范围（例如，25mV至50mV的摆动），这也使存储器装置中的装置功耗受限。其他装置可能使用“AB类”技术来予以测试，这可能需要较高的电压过渡速度和更大的电压摆动范围（例如，>500mV或>5V）。

一些装置可能具有需要同时使用有限的电压摆动范围和较大的电压摆动范围来测试的引脚，从而可能需要测试系统例如同时使用“A类”技术和“AB类”技术来测试引脚。这种附加的能力要求造成测试系统设计中的问题，测试系统需要能够足够快地驱动大电压摆动范围并且以高保真度和少杂散信号而驱动小电压摆动范围。

基于满足最大过渡速度要求所需的转换电流要求来设计测试系统的开关尺寸。换言之，为了在小时间量中以相对大的电压摆动范围来驱动引脚，驱动器电路可能需要能够通过使驱动器电路中有大开关尺寸来产生相对大的转换电流量。

大开关尺寸可对应于大寄生电容。相对于整体大电压摆动范围，所产生的杂散信号可能较小。但是，如果使用具有大开关尺寸的相同驱动器电路来驱动较小的电压摆动范围，则相同的杂散信号可能在比例上变得相对较大，并且由此显著且负面地影响定时精度。

因此，需要一种改进的引脚驱动器，其能够在驱动多种不同的电压摆动范围时产生高摆动保真度。

附图说明

图1图示根据本发明的实施例的示例性电路。

图2图示根据本发明的实施例的示例性方法。

图3a和图3b图示仿真的开关电流和电压过渡曲线。

具体实施方式

图1图示根据本发明的实施例的示例性电路100。

电路100可以包括控制器110、至少一个桥电路（例如，130、132）和多个开关（例如，120.1-120.N、121.1-121.N）。多个开关（120.1-120.N、121.1-121.N）可以彼此并联，每个可以具有在SVIH1、SVIH2、SVIL1、SVIL2处连接到桥电路（130、132）的开关输出端。桥电路（130、132）在从多个开关（120.1-120.N、121.1-121.N）接收到电流时，可以基于参考电压（VIH、VIL）生成输出V_drive。控制器110可以基于电压过渡范围（例如，VIH-VIL）生成多个控制信号（Seg.1-Seg.N），以选择性地以多于一个组合导通多个开关120.1-120.N、121.1-121.N，以向输出V_drive提供电流。可选地，电路100可以包括驱动与V_drive对应的电压V_pin的输出级140。

控制器110可以接收参考电压（VIL、VIH）和数据信号DATA，以确定和生成控制信号（Seg.1-Seg.N），这些控制信号可以表示要为桥电路（130、132）的其中之一导通哪段开关。控制信号（Seg.1-Seg.N）可以是二进制编码的。控制器110可以包括执行存储在非瞬态有形计算机可读介质上的指令集以执行根据本发明的方法的处理器。