[发明专利]一种控制方法及电子设备在审
申请号: | 201410008656.8 | 申请日: | 2014-01-08 |
公开(公告)号: | CN104767953A | 公开(公告)日: | 2015-07-08 |
发明(设计)人: | 李翔 | 申请(专利权)人: | 联想(北京)有限公司 |
主分类号: | H04N5/74 | 分类号: | H04N5/74;H04N9/31 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 张颖玲;王黎延 |
地址: | 100085*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 控制 方法 电子设备 | ||
1.一种控制方法,该方法应用于电子设备中,所述电子设备包括投影单元、深度检测单元;所述投影单元能够将第一多媒体数据投影在目标对象上;其特征在于,所述方法包括:
利用所述深度检测单元检测所述目标对象的深度信息;
根据所述目标对象的深度信息以及所述投影单元的第一参数,计算所述投影单元的第二参数;
基于所述投影单元的第二参数,将所述投影单元移动至第一位置,以使所述投影单元投影出所述第一多媒体数的第一显示画面。
2.根据权利要求1所述的控制方法,其特征在于,所述目标对象包括N个目标子对象;N为大于1的整数;相应地,所述利用所述深度检测单元检测所述目标对象的深度信息,包括:
利用所述深度检测单元检测所述N个目标子对象的N个深度子信息;
对所述N个深度子信息求均值,得到所述目标对象的深度信息。
3.根据权利要求1或2所述的控制方法,其特征在于,所述根据所述目标对象的深度信息以及所述投影单元的第一参数,计算所述投影单元的第二参数,包括:
获取所述目标对象的尺寸信息;
根据所述目标对象的尺寸信息以及所述投影单元的第一参数,计算所述投影单元的第三参数;所述第三参数表征所述投影单元与所述目标对象之间的距离;
根据所述第三参数以及所述目标对象的深度信息,计算所述投影单元的第二参数;所述第二参数表征所述投影单元待移动的距离及方向。
4.根据权利要求3所述的控制方法,其特征在于,所述方法还包括:
判断所述第二参数是否等于第一预设参考值,得到第一判断结果;
当所述第一判断结果表明所述第二参数等于第一预设参考值时,将所述投影单元固定至当前位置,以使所述投影单元投影出所述第一多媒体数的所述第一显示画面。
5.根据权利要求3或4所述的控制方法,其特征在于,所述方法还包括:
判断所述第二参数是否大于或小于第一预设参考值,得到第二判断结果;
当所述第二判断结果表明所述第二参数大于所述第一预设参考值时,确定所述投影单元待移动的距离为所述第二参数的绝对值,所述投影单元待移动的方向为第一方向;基于所述第二参数的绝对值以及所述第一方向,将所述投影单元移动至所述第一位置;
当所述第二判断结果表明所述第二参数小于所述第一预设参考值时,确定所述投影单元待移动的距离为所述第二参数的绝对值,所述投影单元待移动的方向为第二方向;所述第二方向与所述第一方向相反;基于所述第二参数的绝对值以及所述第二方向,将所述投影单元移动至所述第一位置。
6.一种电子设备,所述电子设备包括投影单元,所述投影单元能够将第一多媒体数据投影在目标对象上;其特征在于,所述电子设备还包括:深度检测单元、计算单元、控制单元;其中,
所述深度检测单元,用于检测所述目标对象的深度信息;
所述计算单元,用于根据所述目标对象的深度信息以及所述投影单元的第一参数,计算所述投影单元的第二参数;
所述控制单元,用于基于所述投影单元的第二参数,将所述投影单元移动至第一位置,以使所述投影单元投影出所述第一多媒体数的第一显示画面。
7.根据权利要求6所述的电子设备,其特征在于,所述目标对象包括N个目标子对象;N为大于1的整数;相应地,所述深度检测单元包括:深度检测子单元、平均子单元;其中,
所述深度检测子单元,用于检测所述N个目标子对象的N个深度子信息;
所述平均子单元,用于对所述N个深度子信息求均值,得到所述目标对象的深度信息。
8.根据权利要求6或7所述的电子设备,其特征在于,所述计算单元包括:获取子单元、第一计算子单元、第二计算子单元;其中,
所述获取子单元,用于获取所述目标对象的尺寸信息;
所述第一计算子单元,用于根据所述目标对象的尺寸信息以及所述投影单元的第一参数,计算所述投影单元的第三参数;所述第三参数表征所述投影单元与所述目标对象之间的距离;
所述第二计算子单元,用于根据所述第三参数以及所述目标对象的深度信息,计算所述投影单元的第二参数;所述第二参数表征所述投影单元待移动的距离及方向。
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