[发明专利]准直装置及双探测ＣＴ系统

说明书

技术领域

本发明概括地说涉及一种利用X射线断层成像技术（CT）进行成像的装置，具体涉及一种具有线阵探测器和面阵探测器的双探测ＣＴ系统的准直装置。

背景技术

CT是一种先进的无损检测技术。由于CT的检测特点是不受试件材料种类、形状结构等因素影响，成像直观、分辨率高，尤其在检查复杂的构件方面显示了特有的优势。CT技术可以应用产品的缺陷检测（包括裂纹检测，气孔鉴别、夹杂检测等）、尺寸测量、结构及密度分布的检查以及逆向工程。因此，在航天、航空、兵器、电子、汽车制造、材料研究、海关、考古等领域得到广泛应用。

一般CT系统配备一套探测器系统如线阵探测器或者面阵探测器。对于使用线阵探测器的CT系统，由于可以在射线源出口加前准直器，线阵探测器前面加后准直器，有效地限制了散射线，从而提高了图像的质量。通过前、后准直器将射线形成一薄的扇形射线束，从而减小了射线穿透物体后成像截面的厚度，提高了垂直截面方向（即Z方向）的分辨率。一般线阵探测器ＣＴ系统扫描一层的时间大致1～3分钟，如果扫描一个长度较大的工件，一般需要几个小时甚至几天才能完成，大大降低了射线源的使用效率。为了提高ＣＴ系统的检测效率，一些ＣＴ系统选择使用面阵探测器。对于使用面阵探测器的ＣＴ系统，除了在射线源出口加前准直器外，一般还需要对面阵探测器进行必要的屏蔽，以保护探测器内部的电路系统。

传统的双探测ＣＴ系统，一般在射线源出口处设置两个准直器，一个是适用于线阵探测器，另一个适用于面阵探测器。然而使用过程中需要人工频繁切换准直器，这给使用双探测CT系统的操作人员带来很大的不便，降低了双探测CT系统的使用效率。

在所述背景技术部分公开的上述信息仅用于加强对本发明的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本发明的一个目的在于克服上述现有技术的不足，提供一种操作方便的准直装置；

本发明的另一个目的在于提供一种安装有本发明准直装置的双探测ＣＴ系统。

本发明的额外方面和优点将部分地在下面的描述中阐述，并且部分地将从描述中变得显然，或者可以通过本发明的实践而习得。

根据本发明的一个方面，本发明提供一种准直装置，用于与面阵探测器和线阵探测器切换配合，其中所述准直装置包括具有窗口的底座、安装于所述底座上的两个驱动装置以及分别由所述两个驱动装置驱动的两个“凹”字形屏蔽块，每个屏蔽块具有第一臂、第二臂以及形成于第一臂和第二臂之间的凹口，第一臂长于第二臂，所述第二臂的宽度不小于所述窗口的宽度，当两个屏蔽块的两个凹口相对形成一个能对应于所述面阵探测器的探测口时，其中一个屏蔽块的第一臂、第二臂能分别与另一个屏蔽块的第二臂、第一臂接触配合，当两个屏蔽块的两个凹口相互错开后，两个屏蔽块的两个第二臂之间形成能对应于所述线阵探测器的探测缝，所述探测口和探测缝均位于所述窗口内。

根据本发明的一实施方式，其中，两个驱动装置对称安装于所述窗口的两相对侧。

根据本发明的一实施方式，其中，所述窗口为圆形，并设于所述底座中央位置；所述驱动装置为电机，两个电机的输出轴的中心线重合，并与所述窗口的竖直直径位于同一个垂直于所述窗口的平面内。

根据本发明的一实施方式，其中，所述电机的输出轴上安装有齿轮，所述两个屏蔽块上分别安装有与齿轮配合的齿条。

根据本发明的一实施方式，其中，所述底座上与所述屏蔽块相反的另一面安装有预准直元件，该预准直元件围绕所述窗口设置。

根据本发明的一实施方式，其中，所述预准直元件包括固定于所述底座的圆筒。

根据本发明的一实施方式，其中，所述预准直元件还包括固定于所述圆筒端部的圆锥筒，所述圆锥筒上具有两个相对布置的透光缝，该透光缝能与所述探测缝相对应。

根据本发明的一实施方式，其中，所述屏蔽块的第二臂的宽度不小于所述圆锥筒的最小端内径。

根据本发明的一实施方式，其中，所述屏蔽块包括铁块和包裹于所述铁块外面的铅层。

根据本发明的一实施方式，其中，所述屏蔽块由钨铜合金材质或铅材质制成。

根据本发明的一实施方式，其中，所述底座包括底板和固定于所述底板周围的围框，所述窗口设于所述底板，所述驱动装置和屏蔽块安装于所述底板上，并位于所述围框内。