[发明专利]显示装置及其检查方法

权利要求书

1.一种显示装置，具有设置有显示区域以及半导体芯片搭载区域的基板，其特征在于，

在所述显示区域设置有多个半导体开关元件、与所述多个半导体开关元件的栅极电极连接的多个栅极信号线、与所述多个半导体开关元件的源极电极连接的多个源极信号线，

在所述半导体芯片搭载区域设置有与半导体芯片连接的输出端子即多个第一输出端子以及多个第二输出端子，该多个第一输出端子以及多个第二输出端子经由多个第一以及第二引出布线分别与所述多个栅极信号线以及所述多个源极信号线连接，

所述显示装置具备：

多个第一检查用半导体开关元件，设置在所述显示区域以及所述半导体芯片搭载区域以外的所述基板上，能根据共同施加的栅极电位对向所述多个栅极信号线的检查信号的输入进行统一控制；

多个第二检查用半导体开关元件，设置在所述显示区域以及所述半导体芯片搭载区域以外的所述基板上，能根据共同施加的栅极电位对向所述多个源极信号线的检查信号的输入进行统一控制； 

多个第一引出布线断线检查用半导体开关元件，设置在所述半导体芯片搭载区域内，能根据共同施加的栅极电位对经由所述多个第一输出端子以及所述多个第一引出布线的向所述多个栅极信号线的检查信号的输入进行统一控制；以及

多个第二引出布线断线检查用半导体开关元件，设置在所述半导体芯片搭载区域内，能根据共同施加的栅极电位对经由所述多个第二输出端子以及所述多个第二引出布线的向所述多个源极信号线的检查信号的输入进行统一控制，

各所述第一引出布线断线检查用半导体开关元件的沟道宽度比各所述第一检查用半导体开关元件的沟道宽度小，各所述第二引出布线断线检查用半导体开关元件的沟道宽度比各所述第二检查用半导体开关元件的沟道宽度小。

2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，还具备：

第一检查用信号线，经由所述多个第一检查用半导体开关元件与所述多个栅极信号线连接；

第二检查用信号线，经由所述多个第二检查用半导体开关元件与所述多个源极信号线连接；

第一引出布线断线检查用信号线，经由所述多个第一引出布线断线检查用半导体开关元件以及所述多个第一引出布线与所述多个栅极信号线连接；以及

第二引出布线断线检查用信号线，经由所述多个第二引出布线断线检查用半导体开关元件以及所述多个第二引出布线与所述多个源极信号线连接，

第一引出布线断线检查用信号线的布线宽度比所述第一检查用信号线的布线宽度小，第二引出布线断线检查用信号线的布线宽度比所述第二检查用信号线的布线宽度小。

3.根据权利要求1或2所述的显示装置，其特征在于，

在所述显示装置中显示图像时，对所述多个第一以及第二检查用半导体开关元件、以及所述多个第一以及第二引出布线断线检查用半导体开关元件的任意一个都施加截止电压的栅极电位。