[发明专利]在角部进行加工路径的校正的线放电加工机有效
申请号: | 201410010797.3 | 申请日: | 2014-01-09 |
公开(公告)号: | CN103909312A | 公开(公告)日: | 2014-07-09 |
发明(设计)人: | 平贺薰 | 申请(专利权)人: | 发那科株式会社 |
主分类号: | B23H7/00 | 分类号: | B23H7/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 曾贤伟;范胜杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 进行 加工 路径 校正 放电 | ||
技术领域
本发明涉及具有校正在角部的加工路径的功能的线放电加工机。
背景技术
在线放电加工中已知有:由于在线电极与被加工物之间产生的放电排斥力或加工液的湍流等,导致线电极挠曲(deflect)。当在直线上进行加工时,线电极在与加工行进方向相反的方向产生挠曲,但是没有对加工形状造成恶劣影响。
如图1所示,当加工被加工物2的角部时,当线电极3的挠曲不存在时,在加工方向6的方向进行沿着加工路径4的加工来形成加工槽。但是实际上如图2所示,由于线电极的挠曲量9(向线电极的加工行进方向后方的挠曲量),在角部在加工路径4与实际的线轨迹(角部的线电极轨迹12)之间产生偏差,在被加工物2产生凸部缺损11和凹部残留10。这样,存在以下问题:在角部中线电极的挠曲量9的影响表现得大,角部的形状精度降低得大,产生所谓的“直角压陷”,得不到想要的形状。
为了解决这样的问题提出了各种各样的对策,而这些对策主要被大致分为下述的两类。
(1)通过在角部抑制加工速度或加工液的量、延长放电停止时间等,来缓和线电极的挠曲的方法(所谓的“加工液量控制”和“能量控制”)
(2)考虑线电极的挠曲来校正加工路径的方法
上述两个对策中的、(2)的校正加工路径的方法具有能够缩短加工时间的优点,到目前为止也提出了若干具体的方法。
日本特开昭61-219529号公报公开了具有以下部分的控制装置:控制部,其用于控制线电极相对于工件的相对移动量;存储部,其用于存储线电极在工件加工面的挠曲量;运算部,其通过运算来逐次决定线电极的加工方向;以及驱动部,其以与线电极的挠曲量相等的校正量来驱动线电极。
日本特开平7-24645号公报中公开了具有以下部分的线放电加工装置:控制部,其用于控制线电极的相对移动量;角检测部,其用于检测出加工路径中的角部;加工路径校正部,其针对检测出的角部依次进行规定距离的切线移动的校正、沿着角部的规定距离的移动的校正、以及渐进恢复移动的校正。
日本特开平11-207527号公报中公开了如下的线放电加工装置:在角部沿加工进行方向在切线上延长第一加工路径,然后以比加工角的角度大的角度来设定第二以及第三校正路径,并通过第四路径来校正加工路径以便恢复到最初的加工路径。
但是,上述现有技术文献所记载的技术是针对简单形状的一般凸角的校正方法而提出的技术,当将该校正方法应用到凹角时,如图3所示,存在这样的问题:线电极陷入成为制品的加工面中,在该凹角部产生缺陷,所加工的制品成为不良品。另外,即使是凸角,当将该校正方法应用到图11那样的伴有圆弧块的形状时,加工槽交叉,如图14所示,存在会产生成为引起加工不良的原因的被称为核心的部位这样的问题。
对于凹角的校正进行说明的只有日本特开平7-285029号公报所公开的技术。该日本特开专利文献公开了如下的锐边(sharp edge)的加工方法:按加工条件对线切割放电加工的加工中的线电极的挠曲量进行保存,并根据这些保存的挠曲量来校正加工路径,以便在打孔加工时使线电极相对于行进方向有余量地避让、并在冲模加工(die machining)时进行切掉。
所述日本特开平7-285029号公报所公开的技术是以冲模加工为例针对凹角部的加工路径校正方法而提出的,该技术是进行使线电极在沿着将形成角的第一块(先加工的块)和第二块(后加工的块)所成角度分成两份的线的方向上移动这样的路径校正,该方向与抵消线电极的挠曲的方向不同。因此,第一块与第二块所成角度越大,为了进行加工路径校正而被移动的线电极的移动方向与所指示的第二块的方向的偏差越大,因此,这样的加工路径的校正方法对于凹角不是有效的校正方法。
另外,当使用所述的日本特开平7-285029号公报的技术来进行如图5所示的加工路径的校正(使线电极沿直线A-B、直线B-C、直线C-B、直线B-D移动)时,有可能对放电加工的制品造成损伤。
具体地进行说明,如图2所示,在与线电极的加工方向6相反的方向产生线电极3的挠曲,线电极3的实际位置7从线电极3的指示位置8偏移。当线电极3的加工方向6发生变化时,线电极3实际上以在角部走捷径(参照角部的线电极轨迹12)的方式前进。即,并非是向线电极行进方向后方挠曲的线电极3延后地追随线电极轨迹12。因此,存在如下问题:当将图5的加工路径从B点向C点进行校正时,会由于走捷径而对制品造成损伤,另外,加工路径的校正方向是沿着将形成角的第一块和第二块所成角度分成两分的线的方向,该第一块和第二块所成角度越大捷径的影响就越大,损伤就越深。
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