[发明专利]一种多孔硅模板的制备方法无效
申请号: | 201410011017.7 | 申请日: | 2014-01-09 |
公开(公告)号: | CN103746038A | 公开(公告)日: | 2014-04-23 |
发明(设计)人: | 黄其煜;郑一胄 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0216 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 牛山;陈少凌 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 多孔 模板 制备 方法 | ||
1.一种多孔硅模板的制备方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:
步骤一,取HF、H2O2、去离子水,充分混合,得刻蚀液;
步骤二,无光照条件下,将硅衬底放入所述刻蚀液中,之后放在热板上保持恒温,浸泡;
步骤三,将硅衬底取出,用去离子水反复冲洗,吹干,即可得到多孔硅模板。
2.如权利要求1所述的多孔硅模板的制备方法,其特征在于,步骤一中,所述HF、H2O2、去离子水的体积比为1:4:8~4:1:8。
3.如权利要求1所述的多孔硅模板的制备方法,其特征在于,步骤二中,所述硅衬底的晶向为100。
4.如权利要求1所述的多孔硅模板的制备方法,其特征在于,步骤二中,所述硅衬底为表面沉积金属银的硅衬底。
5.如权利要求1所述的多孔硅模板的制备方法,其特征在于,步骤二中,所述硅衬底的制备方法具体步骤如下:
步骤A:清洗硅片:将硅片切成小块,依次经丙酮超声清洗、无水乙醇清洗、去离子水超声清洗,然后用去离子水冲洗,吹干;
步骤B:配制沉积金属Ag溶液:称取AgNO3放入烧杯中,取HF放入AgNO3中,用去离子水定容到60ml,搅匀,得混合溶液;
步骤C:硅衬底上沉积金属:在室温无光照条件下,将清洗好后的硅片放入所述混合溶液中,浸泡;取出后用去离子水冲洗干净,并用普氮将硅片吹干,即可得表面沉积金属银的硅衬底。
6.如权利要求5所述的多孔硅模板的制备方法,其特征在于,步骤A中,所述硅片的电阻率为0.001~1Ω·cm。
7.如权利要求5所述的多孔硅模板的制备方法,其特征在于,步骤A中,所述小块的尺寸规格为1.5×1.5cm2。
8.如权利要求5所述的多孔硅模板的制备方法,其特征在于,步骤A中,所述丙酮超声清洗时间为5~10分钟、无水乙醇清洗时间为5~10分钟、去离子水超声清洗时间为5~10分钟。
9.如权利要求5所述的多孔硅模板的制备方法,其特征在于,步骤B中,所述AgNO3为0.0102g,所述HF为0.1ml。
10.如权利要求5所述的多孔硅模板的制备方法,其特征在于,步骤C中,所述浸泡时间为1分钟。
11.如权利要求1所述的多孔硅模板的制备方法,其特征在于,步骤二中,所述恒温的温度为35~45℃,所述浸泡时间为60~150分钟,所述吹干具体为用氮气吹干。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的