[发明专利]改善投射式电容触控面板边缘坐标精确度的方法及装置有效
申请号: | 201410015001.3 | 申请日: | 2014-01-13 |
公开(公告)号: | CN104777948B | 公开(公告)日: | 2018-04-17 |
发明(设计)人: | 邱昌明;林孝义 | 申请(专利权)人: | 上海和辉光电有限公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司11438 | 代理人: | 姜怡,阚梓瑄 |
地址: | 201500 上海市金山区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 改善 投射 电容 面板 边缘 坐标 精确度 方法 装置 | ||
1.一种改善投射式电容触控面板边缘坐标精确度的方法,该投射式电容触控面板包括M条沿一个方向排列的感测线L1、L2、……LM,其中L1和LM是边缘感测线,所述方法包括:
获取边缘触摸点的触控感应范围所覆盖的感测线感测到的信号强度;
获取虚拟感测线的虚拟坐标以及虚拟信号强度;
将所述虚拟感测线的虚拟坐标和虚拟信号强度与所述边缘触摸点的触控感应范围所覆盖的感测线的坐标以及感测到的信号强度进行加权平均,获得坐标值;
如果所述边缘触摸点位于所述感测线L1上且所述边缘触摸点的触控感应范围覆盖的感测线包括L1和L2,则所述虚拟感测线为L0,所述虚拟信号强度为R·S1-S2,其中,S1为所述感测线L1感测到的信号强度,S2为所述感测线L2感测到的信号强度,R为校正系数,R取值为0.5~1.5。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述边缘触摸点的坐标值为其中,x0为所述虚拟感测线L0的坐标,x1为所述感测线L1的坐标,x2为所述感测线L2的坐标。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,如果所述边缘触摸点位于所述感测线LM上且所述边缘触摸点的触控感应范围覆盖的感测线包括LM-1和LM,则所述虚拟感测线为LM+1,所述虚拟信号强度为R·SM-SM-1,其中,SM为所述感测线LM感测到的信号强度,SM-1为所述感测线LM-1感测到的信号强度,R为校正系数。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述边缘触摸点的坐标值为其中,xM-1为所述感测线LM-1的坐标,xM为所述感测线LM的坐标,xM+1为所述虚拟感测线LM+1的坐标。
5.一种改善投射式电容触控面板边缘坐标精确度的装置,该投射式电容触控面板包括M条沿一个方向排列的感测线L1、L2、……LM,其中L1和LM是边缘感测线,该装置包括:
第一获取模块,用于获取边缘触摸点的触控感应范围所覆盖的感测线感测到的信号强度;
第二获取模块,用于获取虚拟感测线的虚拟坐标以及虚拟信号强度;以及
计算模块,用于将所述虚拟感测线的虚拟坐标和虚拟信号强度与所述边缘触摸点的触控感应范围所覆盖的感测线的坐标以及感测到的信号强度进行加权平均,获得坐标值;
如果所述边缘触摸点位于所述感测线L1上且所述边缘触摸点的触控感应范围覆盖的感测线包括L1和L2,则所述虚拟感测线为L0,所述第二获取模块获取的所述虚拟信号强度为R·S1-S2,其中,S1为所述感测线L1感测到的信号强度,S2为所述感测线L2感测到的信号强度,R为校正系数,R取值为0.5~1.5。
6.根据权利要求5所述的装置,其中,如果所述边缘触摸点位于所述感测线LM上且所述边缘触摸点的触控感应范围覆盖的感测线包括LM-1和LM,则所述虚拟感测线为LM+1,所述虚拟信号强度为R·SM-SM-1,其中,SM为所述感测线LM感测到的信号强度,SM-1为所述感测线LM-1感测到的信号强度,R为校正系数。
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