[发明专利]实现MCU安全性的方法及电路有效
申请号: | 201410017032.2 | 申请日: | 2014-01-15 |
公开(公告)号: | CN104777761B | 公开(公告)日: | 2018-04-27 |
发明(设计)人: | 刘慧;牟晨杰;王永流 | 申请(专利权)人: | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
主分类号: | G05B19/04 | 分类号: | G05B19/04 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 201203 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 实现 mcu 安全性 方法 电路 | ||
1.一种实现MCU安全性的方法,其特征在于:MCU上电后,利用电源监测电路把MCU芯片内部的总复位信号置位“1”,然后,启动MCU芯片内部的RC振荡电路,同时启动上电复位自适应电路;该上电复位自适应电路立即读取存放于Flash安全位置的128位安全密钥;并将该安全密钥存放在密码匹配电路,之后释放所述总复位信号;JTAG调试接口默认是关闭状态;
当MCU芯片工作后,所述密码匹配电路开始工作;当外部输入密码时,所述密码匹配电路对该密码与其保存的安全密钥进行匹配确认,当匹配确认为正确后,所述JTAG调试接口打开,否则进行全MCU芯片的擦除;
在所述上电复位自适应电路的控制下,根据所述RC振荡电路输出的时钟,每经过1024个时钟进行flash的读操作,读取flash内的flash校验码;如果无法读取到正确的flash校验码,则再经过1024个时钟之后,继续读取flash校验码,直到能够正常读取到正确的flash检测码,之后读取128位安全密钥。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述上电复位自适应电路和密码匹配电路的逻辑电路的布线使用MCU芯片最底下的两层金属进行绕线。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述JTAG调试接口、上电复位自适应电路和密码匹配电路只有在MCU芯片复位状态运行,与MCU电路从逻辑上完全隔离。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述MCU芯片上电后,JTAG调试接口默认设置成密码输入端口,只有在上位机软件的配合下输入正确的128位密码,MCU芯片才自动切换到JTAG调试端口,使用调试器进行MCU调试修改。
5.一种实现MCU安全性的电路,其特征在于,包括:
一复位寄存器,用于产生MCU芯片内部总复位信号;
一电源监测电路,在MCU芯片上电时,将所述复位寄存器置“1”,所述总复位信号有效;
一MCU芯片内部RC振荡器,在所述总复位信号为“1”时,启动工作,输出时钟信号;
一上电复位自适应电路,在所述总复位信号为“1”时,启动工作,读取128位安全密钥,并将读取的安全密钥存放到密码匹配电路,然后释放所述总复位信号,并关闭所述RC振荡器,同时使MCU芯片正常启动;
一Flash,在其安全位置存放所述安全密钥;
一JTAG调试接口,其默认为关闭状态,在关闭状态作为密码输入端口,输入由外部输入的密码;
一密码寄存器,用于寄存外部输入的密码;
一所述密码匹配电路,对外部输入的密码与其保存的所述安全密钥进行匹配,如果经匹配确认正确后,输出密码匹配成功信号;
一密码保护电路,在密码匹配成功信号的控制下,使所述JTAG调试接口自动切换为调试端口,即JTAG调试接口打开;然后使用个人电脑PC,通过调试器,对MCU内部电路进行调试;否则进行全MCU芯片的擦除;
一Flash读取电路,在所述上电复位自适应电路的控制下,根据所述RC振荡电路输出的时钟,每经过1024个时钟进行flash的读操作,读取flash内的flash校验码;如果无法读取到正确的flash校验码,则再经过1024个时钟之后,继续读取flash校验码,直到能够正常读取到正确的flash检测码,之后读取128位安全密钥。
6.如权利要求5所述的实现MCU安全性的电路,其特征在于;所述安全密钥与主程序合并在一起,使入侵者根本无法找到安全密钥所在位置。
7.如权利要求5所述的实现MCU安全性的电路,其特征在于:所述密码保护电路的逻辑电路的布线使用MCU芯片最底下的两层金属进行绕线。
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