[发明专利]基于反射面赋形的大型天线罩电性能补偿方法有效
申请号: | 201410018897.0 | 申请日: | 2014-01-15 |
公开(公告)号: | CN103745060A | 公开(公告)日: | 2014-04-23 |
发明(设计)人: | 许万业;李鹏;段宝岩;仇原鹰;南瑞亭;崔传贞;张逸群;徐文华;刘超;邓坤 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50;H01Q1/42 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 反射 赋形 大型 天线罩 性能 补偿 方法 | ||
1.一种基于反射面赋形的大型天线罩电性能补偿方法,其特征在于包括如下步骤:
(1)根据已知的天线口径场E(x,y),计算天线的远场F(θ,φ),绘制远场方向图T1,并从远场方向图中提取电性能指标,即最大场强G1、第一副瓣L1及波束宽度R1;
(2)用传输线理论计算天线罩上各点处的透射系数并计算透过天线罩后的口径场:
(3)根据透过天线罩后的口径场E′(x,y),计算带罩天线的远场F′(θ,φ),绘制远场方向图T2,并从该远场方向图中提取最大场强G2、第一副瓣及波束宽度R2这些电性能指标;
(4)用(x,y,z)表示理想反射面的坐标,改变理想反射面的z坐标为z′,得到赋形反射面的坐标为(x,y,z′);
(5)根据所得赋形反射面天线上点的坐标,计算反射面赋形造成的口径场相位差Δψ,进而计算反射面赋形后透过天线罩的口径场E″(x,y);
(6)根据反射面赋形后透过天线罩的口径场E″(x,y),计算反射面赋形后带罩天线的远场F″(θ,φ),绘制该远场方向图T3,并从远场方向图中提取最大场强G3、第一副瓣L3及波束宽度R3这些电性能指标;
(7)根据步骤(1)、(3)、(6)中得到的远场方向图和相应的电性能指标,计算加罩后天线电性能指标的改变量,以及计算反射面赋形后带罩天线系统的电性能指标的改变量;
(8)根据天线设计的电性能要求,判断加罩并且反射面赋形后系统的电性能指标改变量是否满足预设要求,如果满足,则输出步骤(1)、(3)、(6)中得到的远场方向图和相应的电性能指标;否则,对赋形反射面进行微调,并重复步骤(5)到步骤(8),直至满足电性能要求。
2.根据权利要求1所述的基于反射面赋形的大型天线罩电性能补偿方法,其特征在于所述步骤(4)中改变理想反射面的z坐标为z′,通过如下公式计算:
其中fl为天线的焦距,为中间变量,γ(x,y)为点(x,y)处透射系数的相位与点(0,0)处透射系数的相位差值,k0为自由空间传播常数,按公式计算,,λ是天线的波长,根据天线工作频率f和光速c,通过公式计算得到。
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