[发明专利]利用红外热场快速预测地下连续墙侧壁渗漏的方法有效
申请号: | 201410019859.7 | 申请日: | 2014-01-16 |
公开(公告)号: | CN103882891A | 公开(公告)日: | 2014-06-25 |
发明(设计)人: | 王建秀;胡健;黄天荣;刘笑天;殷尧 | 申请(专利权)人: | 同济大学 |
主分类号: | E02D33/00 | 分类号: | E02D33/00 |
代理公司: | 上海天协和诚知识产权代理事务所 31216 | 代理人: | 叶凤 |
地址: | 200092 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 红外 快速 预测 地下 连续 侧壁 渗漏 方法 | ||
1.一种利用红外热场快速预测地下连续墙侧壁渗漏的方法,其特征在于,具体步骤如下:
(1)深基坑地下连续墙巡查:
寻找地下连续墙接缝处,并关注墙体表面横向裂缝以及渗漏点;
(2)在基坑外接缝处打井并加入人工热源:
在地墙接缝处坑外打井并加入人工热源,提高水的温度,随着水流不断向地墙内部潜在渗漏区域渗透,地墙内的温度也不断提高,在基坑内地墙体表面的温度也在不同程度的升高;
(3)实施现场检测:
利用红外热像仪,对检测方案中的目标进行测量,形成图像,并记录与保存好相关红外热场图像;
(4)地下连续墙接缝处潜在渗漏点判断:
分析生成的红外热场图像,对异常热场进行分析与判断,进而对渗漏点进行判断与定位。
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