[发明专利]一种光学材料光谱测试用低温杜瓦有效
| 申请号： | 201410020844.2 | 申请日： | 2014-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN103852424A | 公开（公告）日： | 2014-06-11 |
| 发明（设计）人： | 汪洋;陈安森;贺香荣;张亚妮;范广宇;龚海梅 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 郭英 |
| 地址： | 200083 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 光学材料 光谱 测试 低温 | ||
【权利要求书】：
1.一种光学材料光谱测试用低温杜瓦，它包括杜瓦内筒（1）和杜瓦外筒（2），其特征在于：所述的低温杜瓦由金属材料的杜瓦内筒（1）和杜瓦外筒（2）构成真空密封容器，在测试样品（4-3）和磁性压环（4-2）之间夹有力学缓冲环（4-4），测试样品（4-3）和力学缓冲环（4-4）通过磁性压环（4-2）的磁力被固定在低温杜瓦的冷头（4-1）上；测试光从杜瓦的1号窗口（5）入射，经过测试样品（4-3）和空心的过渡冷头（3），从杜瓦的2号窗口（6）出射。
2.根据权利要求1所述的一种光学材料光谱测试用低温杜瓦，其特征在于：所述的杜瓦冷头（4-1）采用不锈钢材料。
3.根据权利要求1所述的一种光学材料光谱测试用低温杜瓦，其特征在于：所述的磁性压环（4-2）采用铁氧体、铁钴镍合金或铁的稀土合金磁性材料。
4.根据权利要求1所述的一种光学材料光谱测试用低温杜瓦，其特征在于：所述的力学缓冲环（4-4）采用聚四氟乙烯、橡胶或塑料。
5.根据权利要求1所述的一种光学材料光谱测试用低温杜瓦，其特征在于：所述的杜瓦窗口（5，6）采用ZnSe材料。
6.根据权利要求1所述的一种光学材料光谱测试用低温杜瓦，其特征在于：所述的过渡冷头（3）采用导热良好的铜材料。
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