[发明专利]一种开机过程中对内存信号进行边缘测试的设计方法

说明书

 

技术领域

    本发明涉及服务器测试技术领域, 具体地说是一种开机过程中对内存信号进行边缘测试的设计方法。

背景技术

     内存边缘测试是通过调整内存参考电压来对内存的工作信号进行边缘测试，以验证内存工作的可靠性。常规的测试方法是通过修改电阻的形式手动调整内存的参考电压，然后进行边缘测试，这种做法需要重复修改电阻，效率很低，不利于在多内存的板卡系统测试。

发明内容

    本发明提供一种一种开机过程中对内存信号进行边缘测试的设计方法，能够在开机时，内存控制器通过软件的形式调整内存参考电压来进行内存边缘测试，可以在短时间内完成大量内存的信号边缘测试，极大的提高了工作效率和增加产品的稳定性。

本发明的技术方案为：

   一种开机过程中对内存信号进行边缘测试的设计方法，利用数字滑动变阻器对内存参考电压进行动态调整，来进行内存信号边缘测试，数字滑动变阻器需要具备I2C slave功能，内存控制器通过I2C总线连接数字滑动变阻器，可以通过软件的形式修改滑动变阻器的阻值，数字滑动变阻器输出端连接到LDO的正输入端的分压电阻进行并联,正输入端电压受数字滑动变阻器调节阻值而变化，从而LD0输出的内存参考电压也会得到变化。

    所述的设计方法，其数字滑动变阻器在上电时滑动片初始值设置为滑动电阻的中心点，上电完成后，系统会通过I2C总线访问wiper register，并可修改wiper register的形式来控制滑动片的位置。

本发明的有益效果是：

能够在开机时，内存控制器通过软件的形式调整内存参考电压来进行内存边缘测试，可以在短时间内完成大量内存的信号边缘测试，极大的提高了工作效率和增加产品的稳定性 。

附图说明

附图1为线路连接示意图；

附图2为数字滑动变阻器原理；

附图3为控制内存参考电压在参考值一定范围内上下变化的示意图。

具体实施方式

下面参照附图，对本发明的内容以具体实例来描述其实现方式及工作过程。

内存控制器通过I2C总线连接数字滑动变阻器，可以通过软件的形式修改滑动变阻器的阻值，数字滑动变阻器输出端连接到LDO的正输入端的分压电阻进行并联,正输入端电压受数字滑动变阻器调节阻值而变化，从而LD0输出的内存参考电压也会得到变化，如图1所示。

数字滑动变阻器在上电时滑动片初始值设置为滑动电阻的中心点，上电完成后，系统会通过I2C总线访问wiper register，并可修改wiper register的形式来控制滑动片的位置。数字滑动变阻器原理见图2。

1）系统在开机时，因为数字滑动变阻器的还未工作，滑动片处于中心点，内存参考电压为初始电压，一般为内存工作电压的一半，此时内存开始工作。

2）内存控制器通过I2C总线访问数字滑动变阻器来控制内存参考电压在参考值一定范围内上下变化（见图3），并通过数据写入、读回判断的方式来进行内存的信号的边缘测试。

3）如果参考电压在一定范围内调整后，数据读回错误，则可以判断边缘测试fail。                                                     

4）如果参考电压在参考值在上下某一侧调整时边缘裕量较大，内存控制器可以根据实测值去重新计算一个中心点，使内存的参考电压工作在调整后的电压值，从而可以提高内存工作可靠性。