[发明专利]磁传感装置的制备方法有效

专利信息
申请号: 201410027085.2 申请日: 2014-01-21
公开(公告)号: CN104793153B 公开(公告)日: 2018-02-02
发明(设计)人: 张挺;杨鹤俊;邱鹏;王宇翔 申请(专利权)人: 上海矽睿科技有限公司
主分类号: G01R33/09 分类号: G01R33/09
代理公司: 上海金盛协力知识产权代理有限公司31242 代理人: 王松
地址: 201815 上海市嘉*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 传感 装置 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种磁传感装置的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括如下步骤:

步骤S101、含有外围电路的基底上设有第一金属层或MIM电容;

步骤S102、在第一金属层上沉积绝缘自停止层,而后沉积第一介质材料,形成通孔,沉积金属材料引出第一金属层,图形化,光刻,形成金属图形,作为第二金属层;

步骤S103、沉积第二介质材料,采用化学机械抛光平坦化停在第二金属层上,同时,保留1000~15000A厚度的第二介质材料;

步骤S104、在第二介质材料层形成通孔,并打开通孔,沉积金属,进行光刻,引出第二金属层;

步骤S105、在绝缘自停止层上方、第二金属层的一侧形成沟槽,刻蚀沟槽时自停止在绝缘自停止层上方;

步骤S106、在步骤S105形成的物件上沉积第三介质材料;

步骤S107、沉积磁材料,图形化;生成磁传感器的图形,形成感应单元的磁材料层,并通过沟槽的应用形成导磁单元;

步骤S108、沉积绝缘材料,形成绝缘材料层;

步骤S109、打开窗口,将磁材料层上的电极引出,并将其他电极引出。

2.根据权利要求1所述的磁传感装置的制备方法,其特征在于:

所述步骤S107中,所述导磁单元的主体部分设置于沟槽内,用以感应第三方向的磁信号,并将该磁信号输出到感应单元进行测量;

感应单元靠近沟槽设置,与导磁单元之间连接或断开,或者部分连接、部分断开,用以测量第一方向或/和第二方向的磁场,结合导磁单元输出的磁信号,能测量被导磁单元引导到第一方向或/和第二方向的第三方向磁场;第一方向、第二方向、第三方向分别为X轴、Y轴、Z轴。

3.根据权利要求1所述的磁传感装置的制备方法,其特征在于:

所述磁材料为AMR材料,或为GMR材料,或为TMR材料。

4.根据权利要求1所述的磁传感装置的制备方法,其特征在于:

步骤S101中,所述第一金属层为含Al或者Ti的材料;

步骤S106中,第三介质材料为多层或单层,第三介质材料包括SiOx或/和SiN或者/和SiOx/SiN材料。

5.根据权利要求1所述的磁传感装置的制备方法,其特征在于:

步骤S107中,磁材料上还设有一层或多层保护材料层。

6.根据权利要求1所述的磁传感装置的制备方法,其特征在于:

所述步骤S104中,在通孔内利用化学气相沉积法沉积金属钨,化学机械抛光平坦化,去除所述基底表面的金属钨,只保留孔内的金属钨。

7.根据权利要求6所述的磁传感装置的制备方法,其特征在于:

所述步骤S104中,还包括在金属钨上方沉积金属,光刻图形化后形成金属图形,沉积的金属材料能阻挡后续开通孔时候的过刻蚀;步骤S104中,在通孔内直接沉积第三金属层,并进行光刻。

8.一种磁传感装置的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括如下步骤:

步骤S101、含有外围电路的基底上设有第一金属层或MIM电容;

步骤S102、在第一金属层上沉积第一介质材料,形成通孔,沉积金属材料,图形化,光刻,形成金属图形,作为第二金属层;

步骤S103、沉积第二介质材料,采用化学机械抛光平坦化停在第二金属层上,同时,保留1000~15000A厚度的第二介质材料;

步骤S104、在第二介质材料层形成通孔,并打开通孔,沉积金属,进行光刻,引出第二金属层;

步骤S105、在第一金属层上方、第二金属层的一侧形成沟槽,刻蚀沟槽时自停止在第一金属层上方;或者,刻蚀的沟槽位于第一金属层上方,与第一金属层并不接触;

步骤S107、沉积磁材料,图形化;生成磁传感器的图形,形成感应单元的磁材料层,并通过沟槽的应用形成导磁单元;

步骤S108、沉积绝缘材料,形成绝缘材料层;

步骤S109、打开窗口,将磁材料层上的电极引出,并将其他电极引出。

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