[发明专利]显示面板

说明书

技术领域

本发明涉及显示面板领域，尤其涉及一种显示面板的测试线路结构。

背景技术

现有显示面板一般会在面板的边缘区域设置用于测试的引脚以对面板线路的电学特性进行测试。然而，现有显示面板上的这些测试引脚大多设置在面板的成膜有效区外，其电学特性与成膜有效区内的线路差异较大，从而导致通过该引脚测得的结果不可靠。

因此，需要提供能够解决上述问题的线路修补方法及线路修补结构。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种显示面板，其包括沿第一方向延伸的多条扫描线、沿第二方向延伸并与所述扫描线相交的多条数据线、设置于相邻两条扫描线之间并与所述扫描线平行的公共电极线、包围所述扫描线、数据线及公共电极线的布线区及用于测试的多个测试引脚。所述扫描线及数据线定义出多个呈矩阵排列的像素单元。每个像素单元内设置有与对应数据线相连接的像素电极。所述像素单元包括位于显示区域内用于显示图像的显示像素及位于所述显示区域边缘处的虚拟像素。所述显示像素的像素电极与公共电极线相互绝缘间隔。所述虚拟像素的像素电极与公共电极线通过一连接孔相连接，所述虚拟像素的扫描线、数据线及公共电极线分别通过布线区内的连接线路与对应的测试引脚相连。

其中，所述每个像素单元内于扫描线与数据线相交处设置有的薄膜电晶体，所述薄膜电晶体包括与扫描线相连的栅极、设置在栅极上的栅极绝缘层、设置在栅极绝缘层上的半导体层、分别与所述半导体层电连接的源极与漏极以及覆盖所述源极与漏极的钝化层。

其中，所述源极与漏极之间开设有向内延伸至所述半导体层的凹孔。所述钝化层填充入所述凹孔内以将所述源极与漏极相互绝缘。所述源极的一端与数据线相连接。所述源极的另一端通过半导体层与漏极相连接。所述漏极与半导体层相对的另一端与所述像素电极相连接。

其中，所述源极及漏极与所述半导体层之间设置有欧姆接触层。

其中，所述虚拟像素内覆盖在所述公共电极线上的栅极绝缘层及钝化层对应所述公共电极线开设有连接孔。所述虚拟像素内的像素电极通过所述连接孔与公共电极相连接。

其中，所述栅极绝缘层及钝化层的材料均为氮硅化合物。所述半导体层的材料为非晶硅。

其中，所述测试引脚包括与奇数排虚拟像素的扫描线连接的奇数虚拟扫描引脚、与偶数排虚拟像素的扫描线连接的偶数虚拟扫描引脚、与奇数列虚拟像素的数据线连接的奇数虚拟数据引脚、与偶数列虚拟像素的数据线连接的偶数虚拟数据引脚、与奇数排显示像素的扫描线连接的奇数显示扫描引脚、与偶数排显示像素的扫描线连接的偶数显示扫描引脚、与传输红色显示信号的数据线相连接的红色数据引脚、与传输绿色显示信号的数据线相连接的绿色数据引脚、与传输蓝色显示信号的数据线相连接的蓝色数据引脚以及与所述公共电极线连接的公共引脚。

其中，所述虚拟像素为分别设置在显示区域的四个边角处的第一虚拟像素、第二虚拟像素、第三虚拟像素及第四虚拟像素。所述第一虚拟像素的扫描线与所述奇数虚拟扫描引脚连接。所述第一虚拟像素的数据线与所述偶数虚拟数据引脚连接。所述第一虚拟像素的公共电极线与所述公共引脚连接。所述第二虚拟像素的扫描线与所述偶数虚拟扫描引脚连接。所述第二虚拟像素的数据线与所述偶数虚拟数据引脚连接。所述第二虚拟像素的公共电极线与所述公共引脚连接。所述第三虚拟像素的扫描线与所述偶数虚拟扫描引脚连接。所述第三虚拟像素的数据线与所述奇数虚拟数据引脚连接。所述第三虚拟像素的公共电极线与所述公共引脚连接。所述第四虚拟像素的扫描线与所述奇数虚拟扫描引脚连接。所述第四虚拟像素的数据线与所述奇数虚拟数据引脚连接。所述第四虚拟像素的公共电极线与所述公共引脚连接。

其中，所述虚拟像素包括分别沿矩形显示区域相互平行的两条长边边缘设置的第一虚拟像素组及第二虚拟像素组。所述第一虚拟像素组及第二虚拟像素组分别包括多个依次排列的虚拟像素。所述第一虚拟像素组内的多个虚拟像素共用一条扫描线并连接至奇数虚拟扫描引脚。所述第一虚拟像素组内的多个虚拟像素的数据线分别连接至红色数据引脚、绿色数据引脚或蓝色数据引脚。所述第一虚拟像素组内的多个虚拟像素的公共电极线连接至公共引脚。所述第二虚拟像素组内的多个虚拟像素共用一条扫描线并连接至偶数虚拟扫描引脚。所述第二虚拟像素组内的多个虚拟像素的数据线分别连接至红色数据引脚、绿色数据引脚或蓝色数据引脚。所述第一虚拟像素组内的多个虚拟像素的公共电极线连接至公共引脚。