[发明专利]基于三芯光纤光栅的二维微尺度测量装置及方法有效
| 申请号： | 201410030737.8 | 申请日： | 2014-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN103759642B | 公开（公告）日： | 2017-01-18 |
| 发明（设计）人： | 崔继文;冯昆鹏;谭久彬 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 光纤 光栅 二维 尺度 测量 装置 方法 | ||
1.一种基于三芯光纤光栅的二维微尺度测量装置，包括宽频光源(1)、光谱分析仪(2)、光环型器(3)、控制计算机(4)、多路光开关(5)和外部参考光栅(7)，所述宽频光源(1)和光谱分析仪(2)分别与光环型器(3)连接，光环形器(3)与多路光开关(5)、多路光开关(5)与控制计算机(4)、控制计算机(4)与光谱分析仪(2)、多路光开关(5)与外部参考光栅(7)连接形成通路，其特征在于三根单模光纤(6)分别将多路光开关(5)与三芯光纤扇出器(8)连通，三芯光纤(9)的一端连接在三芯光纤扇出器(8)上，在三芯光纤(9)的另一端部上通过探针夹持器(10)固装三芯光纤光栅探针(11)，所述的三芯光纤(9)与三芯光纤光栅探针(11)连接形成通路。
2.一种基于三芯光纤光栅的二维微尺度测量方法，其特征在于测量过程中，多路光开关(5)在控制计算机(4)的控制下切换不同的光路，使用光谱分析仪(2)分别测量三芯光纤光栅探针(11)内部的三根光纤光栅和外部参考光栅(7)的反射光谱，数据处理中，对三芯光纤光栅探针(11)内中心外的两根光纤光栅反射光谱中心波长做差分数据处理，可以解耦沿三芯光纤纤芯分布方向上的一维径向触测位移和温漂，对三芯光纤光栅探针(11)中心的光纤光栅反射光谱中心波长和外部参考光栅(7)反射光谱中心波长做差分数据处理，获得无径向触测位移和温漂耦合的轴向触测位移，实现无温度耦合的二维微尺度测量。
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