[发明专利]偏振相关损耗补偿器有效
申请号: | 201410031005.0 | 申请日: | 2014-01-22 |
公开(公告)号: | CN104793342B | 公开(公告)日: | 2017-05-03 |
发明(设计)人: | 杜聚有;陈凡;姬海峰;张丽;崔伟龙 | 申请(专利权)人: | 菲尼萨公司 |
主分类号: | G02B27/28 | 分类号: | G02B27/28;G02B1/115;G02B1/10 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)11363 | 代理人: | 王建国,张文 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 偏振 相关 损耗 补偿 | ||
技术领域
本文所描述的实施例总体上涉及一种偏振相关损耗(PDL)补偿器。
背景技术
除非在本文另外指出,本文所描述的材料不是现有技术的,而是本申请所要求保护的,并且不认为是包含在该部分中的现有技术。
在某些光学系统中,穿过光学系统的光信号可能经历降低所检测的信号质量的光学现象。一种这样的现象是PDL。PDL是由于某些光学介质的各向异性的性质,在光信号的不同偏振状态之间经历的不同信号衰减。
光通道监控器(OCM)是光学系统的一个示例,其可将PDL给予穿过OCM的光信号。某些OCM的PDL设计可导致非常低的收益率,例如,小于50%的收益率,除非在OCM中补偿PDL。
本文要求的主题不限于解决任何缺点或仅在诸如上述那些环境的环境中操作的实施例。相反,该背景技术仅提供用于例示可以实施本文所描述的一些实施例的一个示例性技术领域。
发明内容
本文所描述的技术总体上涉及一种偏振相关损耗补偿器。
在一个示例实施例中,偏振相关损耗补偿器包括基板、抗反射涂层和部分反射涂层。基板具有输入表面和与输入表面相对的输出表面。抗反射涂层形成在输出表面上。部分反射涂层形成在输入表面上。
根据一个优选实施方式,偏振相关损耗补偿器包括取决于光信号相对于部分反射涂层的入射角的偏振相关损耗。
根据一个优选实施方式,部分反射涂层包括折射率交替的材料层。
根据一个优选实施方式,折射率交替的材料层包括至少一个氧化钽(Ta2O5)层和至少一个二氧化硅层。
根据一个优选实施方式,至少一个氧化钽层包括具有0.1523纳米的四分之一波长光学厚度和28.24纳米厚度的一个氧化钽层,至少一个二氧化硅层包括具有0.6920纳米的四分之一波长光学厚度和183.66纳米厚度的一个二氧化硅层。
根据一个优选实施方式,偏振相关损耗补偿器的偏振相关损耗是与波长相关的。
根据一个优选实施方式,部分反射涂层可包括:具有1.3450纳米四分之一波长光学厚度和249.37纳米厚度的第一氧化钽层;具有1.5269纳米四分之一波长光学厚度和405.26纳米厚度的第二二氧化硅层;具有1.4674纳米四分之一波长光学厚度和272.07纳米厚度的第三氧化钽层;具有1.5272纳米四分之一波长光学厚度和405.34纳米厚度的第四二氧化硅层;具有1.3236纳米四分之一波长光学厚度和245.40纳米厚度的第五氧化钽层;以及具有1.2590纳米四分之一波长光学厚度和334.15纳米厚度的第六二氧化硅层。
根据一个优选实施方式,部分反射涂层还可包括:具有1.0269纳米四分之一波长光学厚度和190.39纳米厚度的第一氧化钽层;具有0.9348纳米四分之一波长光学厚度和248.11纳米厚度的第二二氧化硅层;具有0.5283纳米四分之一波长光学厚度和97.95纳米厚度的第三氧化钽层;具有0.5837纳米四分之一波长光学厚度和154.92纳米厚度的第四二氧化硅层;具有0.9006纳米四分之一波长光学厚度和166.98纳米厚度的第五氧化钽层;以及具有0.3284纳米四分之一波长光学厚度和87.16纳米厚度的第六二氧化硅层。
根据一个优选实施方式,抗反射涂层包括:具有0.3208纳米四分之一波长光学厚度和59.48纳米厚度的第一氧化钽层;具有0.3507纳米四分之一波长光学厚度和93.08纳米厚度的第二二氧化硅层;具有1.1100纳米四分之一波长光学厚度和205.80纳米厚度的第三氧化钽层;以及具有1.1049纳米四分之一波长光学厚度和269.37纳米厚度的第四二氧化硅层。
根据一个优选实施方式,基板包括熔融石英。
在另一示例实施例中,一种补偿偏振相关损耗的方法包括在偏振相关损耗补偿器处接收在传播通道内经受偏振相关损耗的输入信号,在传播通道内,输入信号的两个偏振状态中的第一偏振状态比两个偏振状态中的第二偏振状态衰减得多。该方法还包括旋转偏振相关损耗补偿器,以使输入信号相对于偏振相关损耗补偿器输入表面的入射角是有效的,以补偿输入信号在传播通道内的偏振相关损耗。该方法还包括补偿输入信号的偏振相关损耗。
根据一个优选实施方式,补偿输入信号的偏振相关损耗包括,使输入信号的两个偏振状态中的第二偏振状态衰减得比两个偏振状态中的第一偏振状态多。
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