[发明专利]采用电性异常体提取技术在火山岩体分布区中勘测地质体形态的方法

说明书

技术领域

本发明涉及到大地电磁数据的一维半定量反演、定量反演、二维连续介质反演、二维层状介质反演等常规技术，尤其是对反演结果中高电阻率异常体的信息提取的特殊技术，具体地说是一种采用电性异常体提取技术在火山岩体分布区中勘测地质体形态的方法。

背景技术

目前，在用大地电磁方法对准噶尔盆地东部基底结构进行研究的过程中，遇到了区内中上石炭统地层中火山岩体广泛分布的难题，无论是地震资料，还是以往大地电磁层状解释模型都不能较好地刻划地下实际的地质体形态。而根据石油地质研究，石炭系地层可分为以火山岩充填为主的中石炭统地层和以沉积岩为主的下石炭统烃源岩，中下石炭统地层本身就是较好的生储配置。因此，为较好地揭示实际地质体形态，就需要在传统解释思路基础上，应用特殊的解释技术。

发明内容

本发明的目的是针对某些地区石炭系地层上部有较大规模的火山岩体分布，例如：准噶尔盆地青格里底山区块，那些火山岩体基本呈不规则形态分布，用普通的层状介质反演方法难以较好地提取火山岩体的问题，提出一种采用电性异常体提取技术在火山岩体分布区中勘测地质体形态的方法。

本发明的技术方案是：

一种采用电性异常体提取技术在火山岩体分布区中勘测地质体形态的方法，它包括以下步骤：

（1）、在待勘测的火山岩体分布区中，采用大地电磁仪获取若干实测点视电阻率曲线，将沿同一测线上各实测点的视电阻率曲线构成实测点分布特征剖面图；

（2）、对各实测点的视电阻率曲线进行半定量计算，确定测区内的基底层和上覆层分布情况；

（3）、计算各实测点的背景视电阻率曲线，将沿同一测线上各实测点的背景视电阻率曲线构成背景视电阻率的数据体；

（4）、从实测点视电阻率曲线中消除背景视电阻率的数据体，获得剩余视电阻率分布特征剖面图，从而得到待勘测的火山岩体分布区地质体形态图。

本发明中，步骤（1）中实测点的区域范围全面覆盖并大于火山岩体的分布区，实测点的布设密度点距不大于1km，线距不大于3km。

本发明中，步骤（2）具体为：

（a）、对各实测点的实测视电阻率曲线ρ_a进行积分求面积，计算前述面积的均值作为基底层电阻率ρ_b，单位Ω·m；

（b）、计算各实测点的表层电阻率作为相应实测点的上覆层电阻率ρ_c，所述实测点表层电阻率是对该实测点视电阻率曲线的前3-5个点求均值获取；

（c）、采用下述公式计算各实测点的总纵向电导S，

S=520/ρmin·fmin]]>

其中：ρ_min为该测点视电阻率曲线的极小值，f_min是该测点上视电阻率极小值对应的观测频率f；

（d）、将沿同一测线上各实测点视电阻率曲线的首频点连成一条曲线，进行平滑处理，得到区域静校正曲线，对各实测视电阻率曲线进行静校正处理；

采用BOSTICK反演方法对静校正后的各实测点视电阻率曲线进行反演处理，得到与各视电阻率曲线对应的电阻率随地层深度分布的ρ_bos-D曲线，ρ_bos为反演得到的地层电阻率值，单位为Ω·m，D为对应的深度，单位为m；

对电阻率随地层深度变化的各条分布曲线ρ_bos-D进行积分求面积，计算前述面积的均值作为基底以上岩层即上覆层的平均纵向电阻率ρ_t，单位Ω·m；

（e）、计算基底埋深H即上覆层厚度：H=Sρ_t，得到测区内的基底层和上覆层分布情况：即上覆层厚度H，其余为基底层。

本发明中，步骤（a）和（b）之间还包括：将沿同一测线上各实测点的视电组率曲线的首频点连成一条曲线，进行平滑处理，得到区域静校正曲线，用平滑处理后的区域静校正曲线上的数据对各实测点的视电阻率曲线进行静校正处理，得到静校正处理过的各视电阻率曲线。