[发明专利]用于进行差热分析的方法

权利要求书

1.一种用于进行差热分析的方法，其中设置在可调温的样品腔中的样品按照基本线性的温度曲线从起始温度（TStart）开始一直调温到最终温度（TEnd），其中由在加热过程中在多个测量时间点（t0,...ti,...tn）进行的样品温度（TSample）测量的结果中计算出cDTA-信号（cDTA），作为测得的样品温度（TSample）和按温度走向模型计算的参考温度（TRef）之间的温差,

其特征在于，通过以下步骤在每个测量时间点（ti）计算所属的参考温度（TRef(ti)）：

a)确定包含相关测量时间点（ti）的时间间隔，

b1)在时间间隔中为测得的样品温度走向（TSample(t)）计算非线性的拟合函数，

c)计算参考温度（TRef(ti)），作为测量时间点的拟合函数的值。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤a）中确定时间间隔的起始在相关的测量时间点（ti）之前的一个时间段，该时间段与测量时间点（ti）有关。

3.如前述权利要求之一所述的方法，其特征在于，在步骤a）中确定时间间隔的终点在相关的测量时间点（ti）之后的一个时间段，该时间段与测量时间点有关。

4.如前述权利要求之一所述的方法，其特征在于，在步骤a）中根据测量时间点（ti）确定时间间隔的长度。

5.如前述权利要求之一所述的方法，其特征在于，在步骤a）中，在用于执行步骤b）的时间间隔延展到温度程序的起始时间点（tStart）之前或者终止时间点（tEnd）之后的情况下，为在起始时间点（tStart）之前或终止时间点（tEnd）之后使用的样品温度（TSample）进行外插法、优选线性的外插法。

6.如前述权利要求之一所述的方法，其特征在于，在步骤b1)中使用二次多项式作为拟合函数。

7.如前述权利要求之一所述的方法，其特征在于，步骤b1）通过以下步骤补充，

b2)测量时间点，在此测量时间点测得的样品温度（TSample）与拟合函数的对应值相差大于预定值，以及

b3)为了像在步骤b1）中一样在步骤c)中使用，计算修正的拟合函数,然而是在忽略或降低抑制的测量点的权重的情况下。

8.如前述权利要求之一所述的方法，其特征在于，在步骤b1）中在考虑处于时间间隔中的样品温度（TSample）的权重（F(t)）的情况下计算拟合函数。