[发明专利]样品试验专用的通断电系统及其实现方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种产品测试系统，尤其涉及一种需对产品进行时间长短、间隔可控的通断电测试系统及其实现方法。

背景技术

随着电子产品的发展，电子产品的可靠性要求越来越高。电子产品本身的通断电循环数往往作为验证电子产品、电子部件的电应力耐久性的重要考察指标。

在进行可靠性试验、温湿度振动综合应力试验时，往往需要对被试验的样品施加具有一定时序的通断电，这种通断电时序往往较为复杂。通过时间继电器搭电路并不现实而且可靠性不高，在试验中断时很难找到相应的时序进行继续循环试验，往往需要重新开始试验，这样势必会增加产品试验应力，不符合试验要求。又如电源产品，往往通过反复多次的通断电，对电源产品进行耐疲劳验证，用手工操作不现实；若逻辑复杂搭硬件电路也不方便。

发明内容

本发明的目的在于提供一种样品试验专用的通断电系统及其实现方法，解决电子产品可靠性试验、温湿度振动综合应力试验时一定时序通断电控制的问题。

本发明实现上述一个目的样品试验专用的通断电系统的技术方案是：所述通断电系统由MCU、USB程序下载模块、4*4矩阵键盘模块、LED灯模块、数码管显示模块、继电器信号输出模块组成，其中所述USB程序下载模块通讯接入MCU并写入程序，所述4*4矩阵键盘模块通讯接入MCU作通断电系统的外部控制输入，所述LED灯模块和数码管显示模块连接MCU分别显示通断电试验过程的不同状态和各状态的剩余时间，所述继电器信号输出模块分别连接MCU和样品的供电电源端口。

进一步地，所述MCU为百兆赫兹级的STC51单片机。

进一步地，所述通断电系统为4段～16段可扩展的电应力逻辑系统，4*4矩阵键盘模块的每个按键为对应段电应力逻辑时序的外部控制输入。

更进一步地，所述通断电系统为4段电应力逻辑系统，4*4矩阵键盘模块每行的首个按键为对应段电应力逻辑时序的外部控制输入。

本发明上述另一个目的样品试验专用的通断电系统的实现方法，基于上述通断电系统，其特征在于包括步骤：Ⅰ、连接继电器信号输出模块和样品的供电电源端口，并根据样品的试验要求设定电应力逻辑的段数；Ⅱ、根据样品的试验要求分段编写面向继电器信号输出模块的试验程序及扫描矩阵键盘和数码管动态显示的程序，并通过USB程序下载模块写入MCU；Ⅲ、运行MCU，根据符合样品试验要求的电应力逻辑进行外部控制输入，启动相应段的样品试验，数码管显示模块倒计时显示当前段的剩余时间且LED灯模块亮灭呈现样品通断电状态；Ⅳ、MCU运行扫描键盘矩阵的程序遍历各外部控制输入，分别执行相应段的试验程序至完成样品试验。

进一步地，所述通断电系统为4段～16段可扩展的电应力逻辑系统，定义4*4矩阵键盘模块的每个按键为对应段电应力逻辑时序的外部控制输入。

更进一步地，所述通断电系统为4段电应力逻辑系统，4*4矩阵键盘模块每行的首个按键为对应段电应力逻辑时序的外部控制输入。

进一步地，步骤Ⅱ中试验程序中加入有时间动态补偿算法程序。

进一步地，步骤Ⅳ任意段试验程序运行过程中，MCU运行扫描键盘矩阵的程序并忽略外部控制输入。

本发明的有益效果是：在对应不同产品进行电应力测试时，只需改动程序入口处各段通电时间，为编程者提供了极大的便利性；本系统可实现秒级和毫秒级的通断控制，且具有成本低廉、使用方便、直观性和可操作性都很强的特点。

附图说明

图1是本发明通断电系统的MCU及USB程序下载模块的连接结构示意图。

图2是本发明通断电系统的4*4矩阵键盘模块的结构示意图。

图3是本发明通断电系统的LED灯模块的结构示意图。

图4是本发明通断电系统的数码管显示模块的结构示意图。

图5是本发明通断电系统的继电器信号输出模块的结构示意图。

图6是本发明通断电系统一较佳实施例的试验程序流程图。

具体实施方式

以下便结合实施例附图，对本发明的具体实施方式作进一步的详述，以使本发明技术方案更易于理解、掌握。

本发明针对当前对电子产品可靠性测试的迫切需求，通过实践、创新研制并提供了一种样品试验专用的通断电系统及其实现方法，解决电子产品可靠性试验、温湿度振动综合应力试验时一定时序通断电控制的问题。