[发明专利]一种对pogopin电气性能进行测试的方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路测试领域，尤其是一种对pogo pin电气性能进行测试的方法及装置。 

背景技术

pogo pin（探针式连接器）是一种应用于手机等电子产品中的精密连接器，广泛应用于半导体设备中，起连接作用。 

随着电子行业的发展，各种电路都趋于采用集成化的方式，IC的封装也越来越小。在集成电路行业，经常需要进行IC电气性能的测试，以判断IC的好坏，这时为了测试方便就会用到pogo pin。然而，pogo pin的性能在一定程度上会影响到IC测试结果的正确性，因此在测试前需要清楚而准确地知道pogo pin本身的性能参数（包括结构、使用性能和电气性能参数）。目前，业内仅能对pogo pin进行结构和使用性能方面进行测试，而无法对pogo pin进行电气性能测试（因为pogo pin的体积小，很少有电气测试设备能直接接到pogo pin的针脚上）。因此，在对IC进行电气性能测试时，有时候可能是由于pogo pin的电气性能不好而导致测试结果不准确，使好的IC测试出来的电性能却是不好的。 

综上所述，业界亟需一种能准确对pogo pin进行电气性能测试的方法及装置。 

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明的目的是：提供一种准确、方便和快速的，对pogo pin电气性能进行测试的方法。 

本发明的另一目的是：提供一种准确、方便和快速的，对pogo pin电气性能进行测试的装置。 

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种对pogo pin电气性能进行测试的方法，包括： 

A、设计与上PCB夹板和下PCB夹板相对应的PCB校验板；

B、对PCB校验板进行TRL校准，从而将上PCB夹板和下PCB夹板的电气性能参数归零；

C、对由pogo pin、上PCB夹板和下PCB夹板组成的待测试模块进行电气性能测试，从而得到pogo pin的电气性能参数，所述上PCB夹板通过pogo pin与下PCB夹板连接。

进一步，所述步骤B，其具体为： 

通过网络分析仪的TRL设置对PCB校验板的每一项电气性能参数进行校验，从而将上PCB夹板和下PCB夹板的电气性能参数归零。

进一步，所述电气性能参数包括频率、相位、阻抗、时延和损耗。 

本发明解决其技术问题所采用的另一技术方案是： 

一种对pogo pin电气性能进行测试的装置，包括上PCB夹板、下PCB夹板、pogo pin、测试设备以及用于消除上PCB夹板和下PCB夹板影响的PCB校验板，所述上PCB夹板通过pogo pin与下PCB夹板连接，所述上PCB夹板和下PCB夹板均还与测试设备连接。

进一步，所述上PCB夹板和下PCB夹板均设置有与测试设备连接的SAM头。 

进一步，所述PCB校验板还连接有用于进行TRL校验设置的网络分析仪。 

进一步，所述PCB校验板上设置有一根Thru线、两根Load线、四跟match线和一根Open线。 

本发明的方法的有益效果是：基于高精度的TRL去嵌技术，解决了现有技术无法准确对pogo pin进行电气性能测试的问题，可以很方便地对pogo pin的电气性能参数进行测试，使我们更加准确和快速地知道pogo pin本身的电气性能，从而能使pogo pin更好应用于IC的测试。 

本发明的装置的有益效果是：包括上PCB夹板、下PCB夹板、pogo pin、测试设备以及用于消除上PCB夹板和下PCB夹板影响的PCB校验板，解决了现有技术无法准确对pogo pin进行电气性能测试的问题，可以很方便地对pogo pin的电气性能参数进行测试，使我们更加准确和快速地知道pogo pin本身的电气性能，从而能使pogo pin更好应用于IC的测试。 

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。 

图1为本发明一种对pogo pin电气性能进行测试的方法的步骤流程图； 

图2为本发明一种对pogo pin电气性能进行测试的装置的结构示意图。

附图标记：1、上PCB夹板；2、下PCB夹板；3、pogo pin；4、SAM头。 

具体实施方式

参照图1，一种对pogo pin电气性能进行测试的方法，包括： 

A、设计与上PCB夹板和下PCB夹板相对应的PCB校验板；